MCR용 액세서리:
편광 이미징

구조 분석 및 유변 광학용 액세서리
시료의 전단 응력 시각화용
평행판 및 원추판 시스템용으로, -20°C ~ 300°C의 온도 범위에 적합

편광 이미징

주요 특징
호환되는 기기
유사 제품
보완 제품

편광 이미징을 통해 시료의 사진과 동영상을 실시간으로 직접 관찰 및 기록할 수 있으며, 이를 통해 액정에서 발생할 수 있는 유동 유발 결정화 과정, 고분자의 응력 분포, 또는 국소적인 전단 유발 효과에 대한 상세한 데이터를 얻을 수 있습니다. 제품 개발 과정에서는 특히 결정화 과정과 결정 배향에 대한 상세한 지식이 필수적입니다. 이는 제품의 최종 특성에 지대한 영향을 미치기 때문입니다.

주요 특징

시료의 전단 현상을 기록하고 전단 응력 분포를 시각화

편광, 광학 장치, 카메라를 사용하여 전단된 시료를 직접 모니터링하고, 편광 및 탈편광 이미징을 위해 이동식 편광판 중에서 선택할 수 있습니다. 또한, 원형 편광판도 옵션으로 제공됩니다. 평행판 또는 원추판 측정 시스템을 통해 넓은 시료 영역(직경 25 mm)을 관찰하여 전단 하의 시료 내 전단 응력 분포를 시각화할 수 있습니다. 텔레센트릭 광학 장치는 시료가 균일하게 조명되도록 보장하고, 시료에서 발생하는 그대로의 크기를 유지하면서 이미지를 카메라의 CCD 칩으로 직접 향하게 합니다. -20°C ~ +200°C 범위에서의 펠티에 온도 제어 또는 실온 ~ 300°C 범위의 전기식 온도 제어를 활용하여 온도 유발 과정도 연구할 수 있습니다.

시각적 정보와 데이터를 직접 관찰, 분석 및 매칭

편광 이미징 옵션은 유변학 테스트 중 이미지와 동영상을 동시에 자동으로 기록합니다. 레오미터 소프트웨어 RheoCompass에 저장된 기록된 측정 이미지 또는 동영상은 원할 때마다 분석을 수행할 수 있습니다. 사진과 동영상은 선택적으로 다이어그램에 직접 표시되므로 이를 기록된 측정 지점에 할당하여 유변학적 데이터에 연결할 수 있습니다. 레오미터 소프트웨어는 레오미터와 CCD 카메라를 모두 제어합니다. 편광 이미징과 유변학적 분석 간의 완벽한 조화는 연구 개발을 위한 가장 귀중한 데이터를 제공합니다.

RheoOptics Toolbox의 다른 시스템과 레오미터의 결합

편광 이미징 옵션은 Anton Paar의 구조 분석용 액세서리 포트폴리오의 일부이며, MCR 레오미터 시리즈를 위한 모듈식 RheoOptics Toolbox의 일부이기도 합니다. MCR 레오미터를 편광 이미징 옵션과 함께 사용하거나 다른 광학 액세서리로 전환하기 위해서는 최소한의 설정 시간만 필요합니다. 온도를 적용하기 위해 펠티에 및 전기 온도조절 장치를 라만 분광법, IR 분광법, (형광) 광학 현미경, UV 경화와 같은 다른 유변학-광학 도구와 함께 추가로 사용할 수 있습니다. 이를 통해 측정 장비를 최대한 활용할 수 있습니다. 구조 분석을 위해 MCR 레오미터와 결합할 수 있는 다른 구성으로는, 예를 들어 Rheo-SALS(소각 광산란) 및 유전 분광법 등이 있습니다.

특정 응용 분야에 대한 편광 이미징의 관련성 살펴보기

결정화 과정과 다양한 유형의 결정은 광학 장치 등 많은 응용 분야에서 중요한 역할을 합니다. 다양한 형태를 초래하는 메커니즘은 아직 완전히 이해되지 않았으며, 분자량과 같은 영향 요인도 명확하지는 않습니다. 따라서 결정화 및 결정 배향에 대한 지식은 제품의 최종 특성에 큰 영향을 미치므로, 재료, 공정, 제품 개발에 필수적입니다.

편광 이미징을 통해 다음을 수행할 수 있습니다.

재료의 복굴절 특성 변화를 통해 거대 분자 및 나노 입자의 집단적 거동을 감지
레오미터에 시료를 주입하는 동안 재료의 거동을 제어: 충전 상태의 확인, 갭에 갇힌 기포나 불순물을 추적
열처리 중 시료 모니터링: 부분 용융 또는 결정화
가장자리 파단 및 파단 전파의 관찰
갭 설정 중 또는 이후의 시료 잔류 응력을 모니터링(예: 고분자 용융물). 시료가 이완되고 수직 항력이 매우 낮을 때 검은 이미지가 표시됩니다.