Platine de traction TS 600
Le mécanisme de tirage TS 600 Tensile Stage est un élément échantillon avancé, entièrement neuf, pour les examens de diffraction des rayons X in-situ des phénomènes de stress/contrainte dans les fibres, les feuilles et les films fins Il s'agit du premier élément échantillon commercial spécifiquement conçu pour les études XRD in-situ des modifications structurelles dans les matériaux en présence d'une charge mécanique. Grâce à sa construction compacte et à son faible poids, l'instrument peut être utilisé sur des synchrotrons ainsi que sur des diffractomètres de rayons X de laboratoire. De plus, il peut être utilisé en mode transmission et réflexion pour acquérir de nouvelles connaissances dans le monde des contraintes et des déformations.
Caractéristiques principales
Exploration des propriétés mécaniques
- Filtration et diffraction des rayons X simultanées
- Deux cellules de charge différentes couvrent une large gamme de forces avec haute résolution
- Remplacement aisé et reconnaissance automatique des cellules de charge
- Mesure précise de la force et de l'élongation de l'échantillon
Compact et polyvalent
- Mesures dans la géométrie de transmission et de réflexion
- Différents types d'échantillons, comme les fibres, les feuilles, les aciers fins, etc.
- Convient pour les synchrotrons et les diffractomètres des rayons X commerciaux
- Taille réduite et faible poids
Accès aisé à des informations complexes
- Logiciel convivial de contrôle et d'acquisition des données
- Programmation de profils de charge complexes possible, y compris les expériences de filtration et de fluage cycliques
- Les données peuvent être visualisées en ligne dans différentes représentation e t exportées dans différents formats
Spécifications techniques
Plage de force | 5 N cellule de charge : 0,05 à 5 N 600 N cellule de charge : 1 à 600 N |
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Gamme de vitesse | 0,05 à 5 mm/min |
Plage angulaire | Ψ ≤ 20° à 90° (en fonction de Φ) Θ ≤ 20° à 90° (en fonction de Φ) Φ 0° à ± 180° |
Taille des échantillons | Longueur : min. 30 mm Largeur : max. 15 mm Epaisseur : max. 2 mm |
Diamètre | 155 mm |
Hauteur totale | 48,5 mm |
Poids de l'échantillon au-dessus de la plaque de base | 36 mm |
Poids | 1,3 kg |
Géométrie des rayons X | Transmission et réflexion |
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