赢得尖端的分析仪器
准备好用最先进的分析仪器把您的研究推上新台阶了吗?参与 Zeta 电位创新奖,您有机会赢得一台采用突破性 cmPALS 技术的 Litesizer DLS 701 或者一台用于表面 Zeta 电位分析的 SurPASS 3。
若想参与,请告诉我们这些仪器会如何改变您的研究。提交一份单页 A4 申请书,概述您的项目,并说明这项技术将如何助力您的工作、解决具体挑战或带来新机遇。
申请截止日期为2026年3月31日。
提交您的申请
从提交申请到最终展示,我们会全程指导您走完奖项评选的每一步,以确保公平评估,让您的研究发挥最大影响力。
选择您的仪器
您可以选择配备 cmPALS 技术、适用于纳米颗粒和乳剂相关研究的 Litesizer DLS,或者选择用于宏观表面 Zeta 电位测量的 SurPASS 3。每种仪器都能为不同的研究应用场景提供独特优势。
提交您的构想
用一页 A4 纸描述您的研究项目。说明该仪器会对您的研究产生怎样的影响,详细阐述您期望从独特的 cmPALS 技术或先进的表面分析功能中获得哪些具体益处。
专家评估
一个由顶尖科学家组成的评审小组将依据科学价值、可行性以及潜在影响,对所有提交的材料进行评估,确保对每个申请提案进行公平且全面的评估。
创新展示
两名获奖者(每台仪器各一名)将在一次备受瞩目的在线网络研讨会上向科学界展示他们的项目。您富有创新性的研究也有可能成为安东帕的特色成功案例,以此激励全球各地的其他科学家。
该先进的系统可提供更灵敏、更精确的 Zeta 电位测量,能够以前所未有的准确度分析最具挑战性的样品。连续监测相位分析光散射 (cmPALS) 技术可消除常见的干扰,且能在从蛋白质到纳米颗粒等各类样品中得出可靠结果,这使其成为任何专注于颗粒表征和稳定性研究的科研实验室的宝贵补充技术。
作为表面 Zeta 电位分析领域的黄金标准,SurPASS 3 在表征固体材料、膜和涂层的表面特性方面,具备无可比拟的能力。SurPASS 3 采用先进的流动电位测量技术,可提供精确的 Zeta 电位数据,用于了解表面相互作用、粘附现象和材料相容性。其多功能性和准确性使它成为材料科学、膜技术和表面工程应用研究人员不可或缺的工具。
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