MCR 附件：
Rheo-SANS/SAXS
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- 用于结构分析和流变光学的附件
- 用于纳米结构分析的小角度散射
- 温度范围从 -50 ℃ 至 +300 ℃
理解复杂流体在流动下的行为需要了解微观结构级别的结构变化。安东帕提供了一种专门的测量装置，可以将著名的 MCR 流变仪技术与 x-射线或中子射线的小角 X-射线散射 (SAXS) 和小角中子散射 (SANS) 仪器结合使用。借助 Rheo-SANS/SAXS 附件，所有流变测试类型均可同时进行实时小角度散射。该附件配备射线可透的对流温控设备与专用测量系统，适用于液体、粉末、薄膜等各类样品。
关键功能
SAXS 和 SANS 测量可与所有类型的流变测试相结合
Rheo SANS/SAXS 附件与全功能的 MCR 流变仪和 SAXS 及SANS 组合，可在-50 ℃ 至 +300 ℃ 的温度下进行测量。您可以同时实时进行小角度散射并执行所有流变测试类型。在不同的剪切流场位置用光束观测，可提供各个平面的散射信息。可用的测量转子涵盖不同材料制成的同心圆筒（最大杯直径 50 mm）和平行板（最大直径 50 mm）系统，以及 DMA 和拉伸夹具（SRF、SCF、UXF 和 SER）。
SAXS 符合流变学原理，可进行剪切导致的纳米结构分析
小角 X 射线散射 (SAXS) 和广角 X 射线散射 (WAXS) 是对各种材料（例如，生物材料、胶体、悬浮液、纳米晶聚合物）的密度差异进行纳米级表征的有效技术。它们可深入了解大分子尺寸和形状、以及部分有序材料中的间距、孔径等信息。SAXS 结合流变测量，能够研究由剪切诱导的纳米结构变化，涵盖从流动和温度诱导的结晶到剪切带等方面。所有辐照部件默认采用聚碳酸酯制成。可根据要求提供其他材质（例如聚酰亚胺）。不到一分钟就可以更换好部件。
SANS 和 GISANS：纳米级表征
小角度中子散射 (SANS) 是一种强大的纳米级材料表征方法。中子会被原子核或不成对电子的磁矩散射，这与 X 射线不同，它们会与电子云发生相互作用。因为中子呈电中性，所以能深入材料内部进行探测。此外，提供与介电谱仪相结合的 Rheo-SANS，以及用于掠入射 SANS (GISANS) 或中子反射仪的特殊装置，以实现薄膜分析。默认情况下，辐照部件为钛材质。可根据要求提供其他材质（如石英玻璃）。不到一分钟就可以更换好部件。
独特的测量技术，适用于复杂的应用
安东帕独创的 Rheo - SANS/SAXS 装置，被全球众多拥有特殊 X 射线源（同步加速器）或中子源（反应堆或散裂源）的机构采用。对于特殊的安装条件（例如，射线运行的空间有限），我们可以提供特殊类型的流变仪。我们可根据要求提供满足您特定需求的单独测量装置。典型应用包括表征聚合物溶液、熔体和薄膜、生命科学材料、胶体中的纳米级结构、剪切带、大分子的形状和大小、部分有序材料、生理条件下的蛋白质以及反应动力学。
