MCR流变仪附件：
偏光成像
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- 用于结构分析和流变光学的附件
- 用于可视化样品中的剪切应力
- 适用于平行板和锥板系统，温度范围为 -20 ℃ 至 +300 ℃。
借助偏振光成像，您可以直接实时观察和记录样品图片和视频，以深入了解流动引发的结晶过程、聚合物的应力分布或局部剪切诱导效应，因为它们可能发生在液晶中。特别在产品开发中，对结晶过程和结晶取向的详细了解必不可少，因为它们会极大地影响产品的最终性能。
关键功能
记录样品的剪切并可视化剪切应力分布
使用偏振光、光学器件和相机直接监视被剪切的样品，并在可移动的偏振器之间进行选择，以获取偏振和去偏振图像。此外，还有一个圆偏振器选件。 使用平行板或锥板测量系统，观察较宽的样品区域（直径为 25 mm），以可视化剪切下样品内的剪切应力分布。长焦光学系统可确保均匀照亮样品，并将图像直接投射到相机的 CCD 芯片上，同时保持样品中结构的尺寸。在 -20 ℃ 至 +200 ℃ 之间采用Peltier控制温度，或者在室温到 300 ℃ 的温度范围内采用电加热温度控制技术，您也可以研究温度诱导的过程。
观察、分析数据并将其与视觉信息直接匹配
偏振光成像选件在流变测试过程中自动同时记录图像和视频。由于它们由流变仪软件 RheoCompass 存储，因此您可以随时分析记录下来的测量图像或视频。图片和视频可以有选择地直接显示在图表中，因此您可以将它们分配给记录它们的测量点，并以此方式将其链接到流变数据。流变仪软件可控制流变仪和 CCD 相机。偏振光成像和流变分析之间的完美匹配为研究和开发提供了最有价值的数据。
可将流变仪与 RheoOptics 工具箱中的其他系统结合
偏振光成像选件是安东帕结构分析附件组合的一部分，也是 MCR 流变仪系列模块化 RheoOptics 工具箱的一部分。仅需很短的设置时间，就可将 MCR 流变仪与偏振光成像选件组合完毕，或切换到其他光学附件。温度控制方面，可将Peltier和电加热温控设备与其他流变光学工具一起使用，例如拉曼光谱、红外光谱、（荧光）光学显微镜和 UV 固化。这样，您可以充分利用此测量设备。可以与 MCR 流变仪结合使用的其他结构分析装置有 Rheo-SALS（小角激光散射）和介电谱等。
探索偏光成像与您应用特性的相关性
结晶过程和不同的晶型与许多应用有关，如在光学设备中的应用。导致产生不同形态的机理还不是十分明确，影响因素（如分子量等）也不是非常清楚。因此，结晶过程和结晶取向的知识对于材料、过程和产品开发就是必不可少了，因为他们会极大的影响产品的最终性能。
使用偏光成像模块，您可以：
- 通过改变材料的双折射特性来检测大分子和纳米颗粒的集合行为
- 在流变仪加载过程中控制材料的行为：检查填充，跟踪气泡或夹杂在间隙中的杂质
- 在热处理过程中监控样品：部分熔融或结晶
- 观察边缘断裂和断裂扩展
- 在间隙设置期间或之后（例如，使用聚合物熔体）监控样品残余应力。当样品松弛并且法向力很低时，您会看到黑色图像。
