Benchtop-Heizkammer:
BTS 150 | BTS 500
- Kompaktes, patentiertes Design, optimiert für Benchtop-XRD-Anwendungen
- Temperaturkontrollbereich: −10 °C bis +150 °C (BTS 150) und bis zu 500 °C (BTS 500)
- Schnelle, genaue Temperaturregelung mit Sensor in Probennähe
- Unkomplizierte Probenhandhabung, Justierung und Fernsteuerung über USB
BTS 150 und BTS 500 sind die ersten kommerziellen erhältlichen Heizkammern für XRD-Untersuchungen unter Nicht-Umgebungsbedingungen auf Tischdiffraktometern. Die patentierten Geräte bieten alle benötigten Features für Benchtop-Diffraktionsanwendungen – Kompaktheit, Zuverlässigkeit und Bedienkomfort.
Messungen können zwischen −10 °C und 150 °C mit dem BTS 150 und von Umgebungstemperatur bis 500 °C mit dem BTS 500 durchgeführt werden. Beide Geräte sind so kompakt, dass sie in den begrenzten Platz typischer Tischdiffraktometer passen.
Technische Highlights
Schnelle und genaue Temperaturregelung
- Temperaturbereich von −10 °C bis 150 °C (BTS 150)
oder von Raumtemperatur bis 500 °C (BTS 500) - Präzise Temperaturmessung mit Thermosensor dicht an der Probe
- Schnelles Heizen und Kühlen
Für Bedienkomfort optimiert
- Einfaches Handling und Wechseln der Proben
- Einfache Justierung
- Große Positionsstabilität und minimale thermische Ausdehnung des Probenhalters
- Justierbare Streustrahlblende für Messungen bei kleinen 2θ-Winkeln
- Externe Steuerung über USB-Verbindung möglich
Optimiertes Design für Tischdiffraktometer
- Kompakte, leichte Konstruktion mit integriertem Temperaturregler
- Keine externe Kühlung (nur Luftkühlung) für BTS 500 erforderlich oder optionale Wasserkühlung für BTS 150 für niedrigste Temperaturen
Technische Daten
| Betriebstemperatur | Raumtemperatur bis 500 °C (BTS 500) −10 bis 150 °C (BTS 150) |
|---|---|
| Temperaturmessung | Pt100 |
| Atmosphären | Vakuum (10-1 mbar), Luft, Inertgas, Stickstoff |
| Einfallswinkel (2Θ) | 0 bis 164° |
| Max. Arbeitsdruck | 1 bar über Atmosphärendruck |
| Probenhaltermaterial | Nickel oder Keramik (Al2O3) |
| Probengröße | 16 x 14 mm |
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