• Heizzusatz für Vierkreis-Goniometer DHS 1100 mit Graphitkuppel für Hochtemperatur-Röntgendiffraktion an polykristallinen Proben und dünnen Schichten von 25 °C bis 1100 °C
  • Heizzusatz für Vierkreis-Goniometer: DHS 1100

Heizzusatz für Vierkreis-Goniometer: DHS 1100

Der Heizzusatz DHS 1100 ist eine Weiterentwicklung des vielfach bewährten Heizzusatzes DHS 900 mit erweitertem Temperaturbereich von 25 °C bis 1100 °C. Der DHS 1100 ist klein und leicht und kann auf fast allen Vierkreis-Goniometern und auf vielen XYZ-Tischen montiert werden. Der Heizzusatz verfügt über eine neuartige Graphitkuppel, unter der Sie Proben in Vakuum, Luft oder verschiedenen anderen Gasen messen können. Der Heizzusatz DHS 1100 ist ideal für Ihre In-situ-Hochtemperaturuntersuchungen von Phasenübergängen, Textur und internen Spannungen in kristallinen Materialien.

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Hauptmerkmale:

Einzigartiges Strahlfenster

  • Graphitkuppel mit hoher Transmission für Röntgenstrahlen
  • Probenraum evakuierbar bis <1x10-2 mbar für die Untersuchung sauerstoffempfindlicher Proben
  • Keine abschattenden Geräteteile über der gesamten Kuppel

Hervorragende Heizung mit minimalen Nebeneffekten

  • Schnelles und stabiles Heizen bis 1100 °C
  • Ausgezeichnete Temperaturhomogenität über die ganze Heizplatte
  • Genaue Messung der Probentemperatur
  • Minimale Probenverkippung und Probenträgerausdehnung
  • Chemisch beständige Keramikheizplatte

Kompakt und beweglich

  • Gewicht weniger als 500 g
  • Außendurchmesser nur 130 mm
  • Effiziente Luftkühlung
  • Nur 2 Versorgungsleitungen ermöglichen exzellente Beweglichkeit am Goniometer
  • Gerät geeignet für fast alle Eulerwiegen und viele XYZ-Tische

Technische Spezifikationen

Betriebstemperatur25 °C bis 1100 °C
Temperaturmessung Pt-10% Rh-Pt Thermoelement
AtmosphärenVakuum (10-1 mbar), Luft,
Inertgas, Stickstoff
Max. Arbeitsdruck max. 0,3 bar über Atmosphärendruck
Mögliche Einfallswinkel 0° bis 166° 2Θ
0° bis 85° Psi
0° bis 360° Phi
ProbenhaltermaterialAluminiumnitrid
Probendurchmessermax. 25 mm
Kuppelmaterial Graphit
Transmission
(einfallender und gebeugter Strahl)
CuKα: 65%
MessgeometrieReflexion

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