Atomic Force Microscopes:
Tosca
- Spitzen-AFM für Einsteigerbudgets
- Größter Probenträger im Preissegment (50 mm voll nutzbar)
- Schnellster Messaufbau auf dem Markt (nur 3 Minuten)
- Scangröße von 15 µm in Z-Richtung und 90 µm x 90 µm in X- und Y-Richtung
- Cantilever-Austausch in weniger als 10 Sekunden
- Alle Messmodi am selben Probenpunkt ohne Messkopfaustausch
- Größter Probentisch im Preissegment (bis zu 200 mm für Wafer)
- Äußerst effektive Hard- und Software-Automatisierung für Ihr AFM
- Schnellster Messaufbau auf dem Markt (nur 3 Minuten)
- Cantilever-Austausch in weniger als 10 Sekunden
- Alle Messmodi am selben Probenpunkt ohne Messkopfaustausch
auf Anfrage
online verfügbar
Top-level AFM for entry-level budgets: Mit dem schnellsten Messaufbau und dem größten Probenträger kann die Tosca-Serie mit dem Tempo Ihrer AFM-Nano-Oberflächenanalyse mühelos Schritt halten.
Tosca ist die erste Wahl für alle Forscher, Pioniere, Vordenker und Hersteller in der nanotechnologischen Materialwissenschaft.
Für Messmoduswechsel den Messkopf austauschen? Das war gestern: Tosca ermöglicht die Messung an genau derselben Stelle mit allen verfügbaren Messmodi kombiniert in einem Kopf.
Vorteile
Patentierte, intelligente Funktionen, die jeden Schritt des AFM-Messverfahrens abdecken, sorgen für einen einzigartigen, hochgradig optimierten AFM-Workflow, der 10-mal schnellere Ergebnisse als bei herkömmlichen AFM-Systemen ermöglicht.
Anstatt tagelang zu lernen, wie man das AFM bedient, beginnen Sie nach 1 Stunde mit den ersten Messungen. Dank schnellem und sicherem Laden des Cantilevers innerhalb von Sekunden, automatischer Laserausrichtung, äußerst intuitiver Probennavigation und dem sichersten Annäherungsverfahren auf dem Markt sparen Sie wertvolle Zeit und können sich endlich voll und ganz auf Ihre Forschungsergebnisse konzentrieren.
- Das Training dauert nur 1 Stunde
- 12 x schneller als bei herkömmlichen AFMs
Herausforderung
Ich möchte sofort loslegen. Wie viel Zeit muss ich einplanen, um den Umgang mit Tosca zu lernen?
Lösung
Tosca ist so einfach zu bedienen, dass das Training für die Standardmodi nur eine Stunde dauert.
Zeitersparnis & Vorteile
Mit Tosca können Sie mit Ihrer ersten Messung bereits nach einer Stunde Training starten – anstatt nach 1,5 Tagen wie bei herkömmlichen AFMs.
- Keine Probenvorbereitung erforderlich
- Messen Sie auch große Proben direkt und ohne Umstände
- Probentisch: 100 mm Durchmesser, 25 mm Höhe (bis zu 200 mm Durchmesser für Wafer)
Herausforderung
Beim Zurechtschneiden von Proben können diese beschädigt oder verunreinigt werden. Was kann ich dagegen tun?
Lösung
Vergessen Sie die Probenvorbereitung und das damit verbundene Risiko einer Verunreinigung oder verfälschter Ergebnisse. Mit Tosca können Sie auch große Proben mit einer Höhe von bis zu 25 mm und einem Durchmesser von bis zu 100 mm unmittelbar messen .
Zeitersparnis und weitere Vorteile
Mit Tosca erhalten Sie genaueste Ergebnisse und können diesen umständlichen Vorbereitungsschritt überspringen. Zeitersparnis: je nach Probe bis zu 15 Minuten.
- Positionieren Sie den Cantilever in nur 10 Sekunden
- 100 % korrekte Ausrichtung
- Kein Abbrechen des Cantilever
Herausforderung
Der Austausch und die Positionierung des Cantilevers ist kompliziert und zeitaufwändig. Gibt es einen besseren Weg?
Lösung
Verwenden Sie den patentierten Probemaster – damit lässt sich der Cantilever in nur 10 Sekunden mühelos austauschen.
PATENT: AT520313 (B1)
Zeitersparnis & Vorteile
Probemaster positioniert den Cantilever im Handumdrehen an der richtigen Stelle und verhindert Beschädigungen – für eine sichere und korrekte Ausrichtung.
- Bringen Sie mehrere Proben auf und messen Sie sie alle in einem einzigen Vorgang
- Sparen Sie bis zu 20 Minuten bei wiederholtem Probenwechsel
- Sichern Sie den Probenträger mit der magnetischen Verriegelung
Herausforderung
Kann ich mehrere Proben gleichzeitig aufbringen, um den Prozess zu optimieren?
Lösung
Bringen Sie mehrere Proben auf und messen Sie diese in einem einzigen Vorgang. Die patentierte Tosca-Magnetverriegelung gewährleistet eine stabile Positionierung der Proben.
PATENT: AT515951 (B1)
Zeitersparnis und weitere Vorteile
Befestigen Sie die Proben auf dem großen Probenträger an dem Ort ihrer Wahl – auf die stabile Positionierung der Proben ist absolut Verlass. Messen Sie mehrere Proben in einem Schritt. Zeitersparnis: Je nach Benutzer bis zu 20 Minuten pro Probe.
- Vollautomatische Laserausrichtung in 5 Sekunden
- Nur zwei Mausklicks in der dazugehörigen Software
Herausforderung
Die manuelle Ausrichtung des Lasers ist ein umständlicher Vorgang und verlangt einiges an Erfahrung ab. Gibt es eine Alternative?
Lösung
Tosca bietet eine vollautomatische Laserausrichtung in 5 Sekunden.
PATENT: AT520419 (B1)
Zeitersparnis und weitere Vorteile
Mit der automatischen Laserausrichtungsfunktion von Tosca gehören mühselige und zeitraubende Ausrichtungsvorgänge der Vergangenheit an. Nur zwei Klicks in der Software und der Laser ist ausgerichtet. Zeitersparnis: bis zu 5 Minuten pro Ausrichtung.
- Die patentierte Seitenansichtskamera zeigt Ihnen die genaue Position des Cantilevers über der Oberfläche
- Sicher und schnell
- Keine Gefahr einer Kollision mit dem Messkopf
Herausforderung
Die Annäherung ist alles andere als einfach und erfordert größtmögliche Vorsicht. Wie lässt sich eine Kollision des Messkopfes angesichts komplexen Geometrien, transparenter Proben sowie in Glas eingebetteter Proben umgehen?
Lösung
Die patentierte Seitenansichtskamera von Tosca bietet den sichersten und einfachsten Annäherungsvorgang auf dem Markt.
PATENT: EP3324194B1
Zeitersparnis und weitere Vorteile
In der horizontalen Ansicht des Cantilevers über der Probenoberfläche können Sie die Annäherung visuell überwachen. Zeitersparnis: Je nach Probe und Benutzer 5 bis 10 Minuten mit deutlich geringerem Störungsrisiko.
- Drei Kameras zeigen die Probe auf allen Ebenen
- Mit einem Klick wechseln Sie in die Ansicht im cm-, µm- oder nm-Maßstab
- So sparen Sie 5 bis 10 Minuten Zeit pro Messung
Herausforderung
Es braucht oft viel Zeit und Geduld, den Bereich auf der Probe zu finden, der gemessen werden soll. Wie kann ich dieses Verfahren optimieren?
Lösung
Tosca bietet eine intuitive Click-and-Move-Navigation: Klicken Sie einfach auf den gewünschten Bereich, um sofort automatisch zu navigieren, anstatt wertvolle Zeit für die manuelle Positionierung aufzuwenden.
Zeitersparnis und weitere Vorteile
Die Navigation erfordert nur einen einzigen Mausklick, von großem Maßstab in cm über µm bis hin zu nm – mit drei integrierten Kameras. Zeitersparnis: 5 bis 10 Minuten pro Messung bei absolut müheloser Handhabung.
- Sie behalten die Rohdaten stets auf Abruf und können die Auswirkungen sämtlicher Analyseschritte verfolgen
- Vorlagen und Batch-Analyse
- Berichte in 5 Sekunden erstellt
Herausforderung
Ich benötige eine Analysesoftware mit diversen Analysemöglichkeiten und ‑vorlagen. Außerdem möchte ich alle Analyseschritte nachverfolgen können.
Lösung
Mit den Tosca-Analysevorlagen erhalten Sie vollständige Berichte binnen wenigen Sekunden. Jeder einzelne Analysevorgang wird aufgezeichnet, sodass Sie die Rohdatenverarbeitung jederzeit verfolgen können.
Zeitersparnis und weitere Vorteile
Sie müssen lediglich die Rohdaten sowie verschiedene Daten aus Batch-Messungen laden, und der Bericht ist innerhalb von 5 Sekunden fertig. Zeitersparnis: Bis zu 20 Minuten pro Analysebericht.
- Kontaktresonanzamplituden-Bildgebung
- Bildgröße 10 µm x 10 µm
- Auflösung 500 px x 500 px
Details
PMMA/SBS-Polymermischung. Überlagerung von Topografie und mechanischen Eigenschaften. Bildgröße 10 µm x 10 µm, Auflösung 500 px x 500 px.
Modus
Kontaktresonanzamplituden-Bildgebung
Forschungsthema
Die Verteilung beider Polymere definiert die mechanischen Eigenschaften dünner Filme. Der CRAI-Modus wird sowohl für die Topografie als auch für die Phasenanalyse verwendet.
- Intermittierender Modus
- Bildgröße 25 µm x 25 µm
- Auflösung 1000 px x 1000 px
Details
Fasernetzwerk aus Polycaprolacton (PCL). Hochauflösendes topografisches Bild zur Auswertung kritischer Dimensionen. Bildgröße 25 µm x 25 µm, Auflösung 1000 px x 1000 px.
Modus
Intermittierender Modus
Forschungsthema
PCL-Nanofasern sind ein vielversprechendes Material für verschiedene biomedizinische Anwendungen. Die Topografieanalyse zeigt den Durchmesser der Nanofasern zwischen 80 nm und 400 nm.
- Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie
- Bildgröße 564 nm x 564 nm
- Auflösung 400 px x 400 px
Details
Mikroelektronische Komponenten, bestehend aus leitfähigen Oxidpartikeln, in einer isolierenden Glasmatrix. Überlagerung von Topografie und Strom. Bildgröße 564 nm x 564 nm, Auflösung 400 px x 400 px.
Modus
Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie
Forschungsthema
C-AFM kann verwendet werden, um elektrisch schwache Punkte in dielektrischen Beschichtungen zu identifizieren oder um den Leitungsweg in einer mikroelektronischen Komponente oder in Materialien für Elektroden abzubilden.
- Intermittierender Modus
- Bildgröße 20 µm x 20 µm
- Auflösung 1000 px x 1000 px
Details
Silizium-Wafer für die Halbleiterherstellung. Oberfläche nach der Metallisierung. Bildgröße 20 µm x 20 µm, Auflösung 1000 px x 1000 px.
Modus
Intermittierender Modus
Forschungsthema
Die genaue Analyse der Korngröße und der Oberflächenrauheit sind äußerst wichtige Parameter für die Metallisierungsschritte bei der Wafer-Herstellung.
Technische Daten
| Tosca 400 | Tosca 200 | |
| Scanner | ||
| X-Y-Scanbereich | 100 µm x 100 µm | 50 µm x 50 µm* |
| Z-Scanbereich | 15 µm | 10 µm** |
| Max. Rastergeschwindigkeit | 10 Linien/Sekunde | 5 Linien/Sekunde |
| Probe | ||
| Max. Probendurchmesser | 100 mm (200 mm***) | 50 mm |
| Max. Probenhöhe | 25 mm (2 mm***) | |
| Max. Probengewicht | <600 g | |
| Positionswiederholungsgenauigkeit (uni-direktional) | <1 µm | |
| Videomikroskop | ||
| Kamera | Farbe, 5 Megapixel, CMOS-Sensor | |
| Sichtfeld | 1,73 mm x 1,73 mm | |
| Räumliche Auflösung | 5 µm | |
| Fokus | Motorgesteuerter Fokus | |
| Übersichtskamera | ||
| Kamera | Farbe, 5 Megapixel, CMOS-Sensor | |
| Sichtfeld | 40 mm x 40 mm | |
| Räumliche Auflösung | 50 µm | |
| Seitenansichtkamera | ||
| Seitenansichtkamera | Schwarzweiß, Sichtfeld 30 mm | |
| Modi | ||
| Standardmodi | Kontakt-Modus, intermittierender Modus (inklusive Phasenbild), Lateralkraftmikroskopie, Kraft-Abstand-Kurve | |
| Optionale Modi | Kontaktresonanzamplituden-Bildgebung, Magnetkraftmikroskopie, Kelvinsondenkraftmikroskopie, elektrostatische Kraftmikroskopie, Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie mit Strombegrenzung | |
| Abmessungen und Gewicht | ||
| Größe (L x B x H), AFM-Einheit | 490 mm x 410 mm x 505 mm | |
| Größe (L x B x H), Controller | 340 mm x 305 mm x 280 mm | |
| Gewicht, AFM-Einheit | 51,1 kg | |
| Gewicht, Controller | 7,8 kg | |
* optionales Upgrade auf 90 µm x 90 µm
** optionales Upgrade auf 12 µm oder 15 µm
*** bei Verwendung des Wafer-Probentischs (optional)
Tosca ist eine eingetragene Marke (013412143) von Anton Paar.
Anton Paar Certified Service
- Mehr als 350 herstellerzertifizierte technische Experten weltweit
- Qualifizierter Support in Ihrer Landessprache
- Schutz Ihrer Investition über ihre gesamte Nutzungsdauer
- 3-Jahres-Garantie
