Relatórios de Aplicação
Tem um pedido desafiador? Nossos relatórios de aplicação estão aqui para ajudar. Compiladas por especialistas da Anton Paar, elas ajudam a superar desafios específicos em sua área.
Aplicação
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Adhesion of passivation layers in semiconductor industry by nanoscratch test Relatórios de Aplicação
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Digestion in Multiwave 5000 Using HF Complexation of Fluorides Relatórios de Aplicação
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In-situ dehydration experiments on crystalline tungstic acids Relatórios de Aplicação
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In-situ X-ray Diffraction on a LiCoO₂ Pouch Cell Battery Relatórios de Aplicação
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Low Temperature Phase Identification in Organic Semiconductor Thin Films Relatórios de Aplicação
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Material Brief: Characterization of Copper Sintered Powder Wicks - Porometer 3G Relatórios de Aplicação
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Measurement of adhesive properties by nanoindentation Relatórios de Aplicação
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Mechanical surface characterization of smartphone displays Relatórios de Aplicação
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Mechanicals properties of thin films in semiconductor industry by nanoindentation Relatórios de Aplicação
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Nanomechanical characterization of conductive printed ink with silver nanoparticles Relatórios de Aplicação
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Phase Transitions of Galliumphosphate Relatórios de Aplicação
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Power Tool: Investigating Battery Material with the Litesizer™ Relatórios de Aplicação
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Residual Stresses in Temperature-cycled Al Thin film on Si(100) Relatórios de Aplicação
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Silica Particles: Size and Colloidal Stability by Using the Litesizer 500 Relatórios de Aplicação
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Sintering Behavior of Thiol-capped Gold Nanoparticles Investigated with TTK 600 Relatórios de Aplicação
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Size and Shape of Gold Nanoparticles in an Organic Solvent via SAXS Relatórios de Aplicação
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Temperature-Dependent Strain-stress Characterization in GaN (Gallium Nitride) Thin Films Relatórios de Aplicação
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Temperature-induced transitions between metastable phases of perovskite solid solutions Relatórios de Aplicação
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The Zeta Potential as an Indicator of Surface Properties Relatórios de Aplicação
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Thermal Stability of Organic Semiconductor Monolayers Monitored by In-situ X-ray Reflectivity Relatórios de Aplicação