Dispositivo di trazione TS 600 - Dispositivo per studi in loco con diffrazione di raggi X di fenomeni di stress/sollecitazioni in fibre, lamine e film sottili
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Dispositivo di trazione:
TS 600

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Il dispositivo di trazione TS 600 è un dispositivo completamente nuovo per studi in-situ con diffrazione di raggi X di fenomeni di stress/sollecitazione in fibre, lamine e film sottili. Si tratta del primo dispositivo commerciale specificamente progettato per analisi XRD in sito di modifiche strutturali dei materiali sotto carico meccanico. Grazie alla sua compattezza ed al suo peso ridotto, lo strumento può essere usato su sincrotroni e su diffrattometri a raggi X di laboratorio. Inoltre può essere utilizzato in modalità trasmissione e riflessione per ottenere nuove informazioni nel campo dello stress e della sollecitazione.

Principali caratteristiche

Esplorazione del mondo delle proprietà meccaniche

  • Sollecitazione e diffrazione raggi X simultanee
  • Due diverse celle di carico coprono una vasta gamma di forze con elevata risoluzione
  • Facile scambio e riconoscimento automatico di celle di carico
  • Misura precisa di forza ed elongazione del campione

Compatto e versatile

  • Misure con geometria di trasmissione e riflessione
  • Vari tipi di campioni, come fibre, lamine, lamiere sottili, ecc
  • Adatto per sincrotroni e diffrattometri a raggi X commerciali
  • Dimensione e peso ridotti

Facile accesso ad informazioni complesse

  • Software facile da usare per il controllo e l'acquisizione dei dati
  • È possibile programmare profili di carico complessi tra cui esperimenti di sollecitazione e deformazione ciclica
  • I dati possono essere visualizzati online in rappresentazioni diverse ed esportate in vari formati

Specifiche tecniche

Intervallo di forzacella di carico 5 N: da 0,05 a 5 N
cella di carico 600 N: da 1 a 600 N
Intervallo di velocitàda 0,05 a 5 mm/min
Intervallo angolareΨ ≤ 20° a 90° (a seconda di Φ)
Θ ≤ 20° a 90° (a seconda di Φ)
Φ 0° a ± 180°
Dimensione del campioneLunghezza: min. 30 mm
Larghezza: max. 15 mm
Spessore: max. 2 mm
Diametro155 mm
Altezza totale48,5 mm
Altezza del campione sopra la piastra base36 mm
Peso1,3 kg
Geometria dei raggi XTrasmissione e riflessione

Anton Paar Certified Service

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