Microscopio de fuerza atómica: Serie Tosca
Reduzca el tiempo de resultado con el microscopio de fuerza atómica Tosca
La serie Tosca combina de forma única la tecnología premium y una operación eficiente en términos de tiempo, lo que convierte este AFM en una herramienta perfecta para el análisis nanotecnológico para científicos y usuarios industriales.
Escoja entre dos modelos distintos: Tosca 400, un AFM premium para muestras grandes, o el Tosca 200, un AFM para muestras medianas y presupuestos limitados. Ambos ofrecen el mismo nivel de rendimiento, flexibilidad y calidad.
Todo equipo Tosca viene con: tres años de garantía, tres vouchers para entrenamientos del usuario, y vouchers para reportes de medición detallados hasta en 10 muestras de su elección.
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Características principales
Disfrute de excelentes habilidades en la orientación: Alineación automática del láser
La alineación del láser es un paso muy importante, así como complejo, al realizar mediciones con un AFM. Puede requerir de mucho tiempo, especialmente para los usuarios no experimentados, aunque también para los que tienen experiencia. Es por ello que Tosca 400 incorpora una función para la alineación totalmente automática del láser: Después de cargar el cantilever en el actuador y el cuerpo del actuador en el cabezal del AFM, el instrumento realiza la alineación del láser automáticamente con solo dos clics en el software de control.
Confíe en sus mediciones: movimiento fuera de plano minimizado
La arquitectura con escáneres XY y Z desacoplados sitúa el escáner XY debajo de la muestra y el escáner Z en el cabezal del instrumento. Este diseño del instrumento produce muy pocas interferencias entre los escáneres y muy poco movimiento fuera de plano, un inconveniente conocido de los sistemas AFM convencionales con un escáner de tubo que producen la típica curvatura de fondo o "arco". El movimiento fuera de plano de la serie Tosca es 20 veces inferior al de los AFM con escáner de tubo del mercado.
Obtenga una visión completa: Extensa área de escaneado combinada con una precisión máxima
El rango de hasta 100 µm del escáner X-Y y de hasta 15 µm del Z le ofrece flexibilidad para representar áreas extensas de las muestras con grandes cambios topográficos. La navegación cliquear y desplazarse del software Tosca Control le ayuda a seleccionar las áreas de interés de forma rápida y precisa.
Avance: el procedimiento de enganche más sencillo en el mercado de los AFM
El procedimiento de enganche hace que la superficie de la muestra esté en contacto con el cantilever. Se trata de uno de los procedimientos más críticos al manejar un AFM. La serie Tosca supera este problema con una cámara de visión lateral para identificar la posición exacta del cantilever y moverlo hasta la superficie tanto como sea posible. A continuación, puede iniciar el procedimiento automático de enganche y, en cuestión de segundos, el cantilever toca la superficie de la muestra y está listo para el escaneado.
Cambio rápido y seguro de cantilever
Probemaster es una herramienta exclusiva desarrollada específicamente para el manejo del cantilever, que ahorra tiempo y asegura un posicionamiento rápido, seguro y correcto del cantilever. De este modo se asegura que puede montar el cuerpo del actuador con el cantilever rápidamente y con seguridad para la siguiente medición.
Viva una precisión superior sin compromisos
La arquitectura con escáner desacoplado garantiza una precisión máxima hasta el nivel sin artefactos en forma de arco. El escaneado X-Y de circuito cerrado elimina la no linealidad y el deslizamiento, lo que repercute en una precisión máxima en el análisis a nanoescala.
Especificaciones técnicas
| Tosca 400 para muestras grandes | Tosca 200 para muestras medianas | |||
| Escáner | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Rango de escaneado X-Y | 100 µm x 100 µm | 50 µm x 50 µm* | |||
| Rango de escaneado Z | 15 µm | 10 µm** | |||
| Velocidad máx. de escaneado | 10 líneas/s | 5 líneas/s | |||
| Tamaño de la muestra | |||||
| Diámetro máx. de la muestra | 90 mm | 45 mm | |||
| Altura máx. de la muestra | 25 mm | ||||
| Peso máx. de la muestra | <600 g | ||||
| Fase motorizada | |||||
| Fase X-Y | 100 mm recorrido | ||||
| Fase Z | 85 mm recorrido | ||||
| Repetibilidad de la posición (unidireccional) | <1 µm | ||||
| Microscopio con video | |||||
| Cámara | Color, 5 megapíxeles, sensor CMOS | ||||
| Campo de visión | 1.73 mm x 1.73 mm | ||||
| Resolución espacial | 5 µm | ||||
| Foco | Foco monitorizado | ||||
| Cámara de vista general | |||||
| Cámara | Color, 5 megapíxeles, sensor CMOS | ||||
| Campo de visión | 40 mm x 40 mm | ||||
| Resolución espacial | 50 µm | ||||
| Cámara de vista lateral | |||||
| Cámara de vista lateral | Blanco y negro, rango de visión 30 mm | ||||
| Modos | |||||
| Modos estándar | Modo de contacto, modo pulsación (incluyendo imagen de fase), microscopio de fuerza lateral, curva fuerza distancia | ||||
| Modos opcionales | Imagen de la amplitud de la resistencia al contacto | ||||
| Dimensiones y peso | |||||
| Tamaño (largo x ancho x alto), unidad de AFM | 490 mm x 410 mm x 505 mm | ||||
| Dimensiones (largo x ancho x alto), controlador | 340 mm x 305 mm x 280 mm | ||||
| Peso, unidad de API | 51.1 kg | ||||
| Peso, controlador | 7.8 kg | ||||
* mejora opcional a 90 µm x 90 µm
** mejora opcional a 12 µm o 15 µm
Tosca es una marca registrada (013412143) de Anton Paar.
Anton Paar Certified Service
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Más de 350 expertos técnicos certificados por el fabricante en todo el mundo
- Soporte calificado en su idioma local
- Protección para su inversión a lo largo de su ciclo de vida
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