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Microscopio de fuerza atómica: Serie Tosca

Reduzca el tiempo de resultado con el microscopio de fuerza atómica Tosca

La serie Tosca combina de forma única la tecnología premium y una operación eficiente en términos de tiempo, lo que convierte este AFM en una herramienta perfecta para el análisis nanotecnológico para científicos y usuarios industriales.

Escoja entre dos modelos distintos: Tosca 400, un AFM premium para muestras grandes, o el Tosca 200, un AFM para muestras medianas y presupuestos limitados. Ambos ofrecen el mismo nivel de rendimiento, flexibilidad y calidad.

Todo equipo Tosca viene con: tres años de garantía, tres vouchers para entrenamientos del usuario, y vouchers para reportes de medición detallados hasta en 10 muestras de su elección.

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Características principales

Disfrute de excelentes habilidades en la orientación: Alineación automática del láser

Disfrute de excelentes habilidades en la orientación: Alineación automática del láser

La alineación del láser es un paso muy importante, así como complejo, al realizar mediciones con un AFM. Puede requerir de mucho tiempo, especialmente para los usuarios no experimentados, aunque también para los que tienen experiencia. Es por ello que Tosca 400 incorpora una función para la alineación totalmente automática del láser: Después de cargar el cantilever en el actuador y el cuerpo del actuador en el cabezal del AFM, el instrumento realiza la alineación del láser automáticamente con solo dos clics en el software de control.

Confíe en sus mediciones: movimiento fuera de plano minimizado

Confíe en sus mediciones: movimiento fuera de plano minimizado

La arquitectura con escáneres XY y Z desacoplados sitúa el escáner XY debajo de la muestra y el escáner Z en el cabezal del instrumento. Este diseño del instrumento produce muy pocas interferencias entre los escáneres y muy poco movimiento fuera de plano, un inconveniente conocido de los sistemas AFM convencionales con un escáner de tubo que producen la típica curvatura de fondo o "arco". El movimiento fuera de plano de la serie Tosca es 20 veces inferior al de los AFM con escáner de tubo del mercado.

Obtenga una visión completa: Extensa área de escaneado combinada con una precisión máxima

Obtenga una visión completa: Extensa área de escaneado combinada con una precisión máxima

El rango de hasta 100 µm del escáner X-Y y de hasta 15 µm del Z le ofrece flexibilidad para representar áreas extensas de las muestras con grandes cambios topográficos. La navegación cliquear y desplazarse del software Tosca Control le ayuda a seleccionar las áreas de interés de forma rápida y precisa. 

Avance: el procedimiento de enganche más sencillo en el mercado de los AFM

Avance: el procedimiento de enganche más sencillo en el mercado de los AFM

El procedimiento de enganche hace que la superficie de la muestra esté en contacto con el cantilever. Se trata de uno de los procedimientos más críticos al manejar un AFM. La serie Tosca supera este problema con una cámara de visión lateral para identificar la posición exacta del cantilever y moverlo hasta la superficie tanto como sea posible. A continuación, puede iniciar el procedimiento automático de enganche y, en cuestión de segundos, el cantilever toca la superficie de la muestra y está listo para el escaneado.

Cambio rápido y seguro de cantilever

Cambio rápido y seguro de cantilever

Probemaster es una herramienta exclusiva desarrollada específicamente para el manejo del cantilever, que ahorra tiempo y asegura un posicionamiento rápido, seguro y correcto del cantilever. De este modo se asegura que puede montar el cuerpo del actuador con el cantilever rápidamente y con seguridad para la siguiente medición. 

Viva una precisión superior sin compromisos

Viva una precisión superior sin compromisos

La arquitectura con escáner desacoplado garantiza una precisión máxima hasta el nivel sin artefactos en forma de arco. El escaneado X-Y de circuito cerrado elimina la no linealidad y el deslizamiento, lo que repercute en una precisión máxima en el análisis a nanoescala.

Especificaciones técnicas


 

Tosca 400
para muestras grandes
Tosca 200
para muestras medianas
Escáner  
Rango de escaneado X-Y100 µm x 100 µm50 µm x 50 µm*
Rango de escaneado Z15 µm 10 µm**
Velocidad máx. de escaneado 10 líneas/s 5 líneas/s
Tamaño de la muestra
Diámetro máx. de la muestra 90 mm 45 mm
Altura máx. de la muestra 25 mm
Peso máx. de la muestra <600 g
Fase motorizada
Fase X-Y 100 mm recorrido
Fase Z 85 mm recorrido
Repetibilidad de la posición  (unidireccional) <1 µm
Microscopio con video
Cámara Color, 5 megapíxeles, sensor CMOS
Campo de visión 1.73 mm x 1.73 mm
Resolución espacial 5 µm
Foco Foco monitorizado
Cámara de vista general
Cámara Color, 5 megapíxeles, sensor CMOS
Campo de visión 40 mm x 40 mm
Resolución espacial50 µm
Cámara de vista lateral
Cámara de vista lateralBlanco y negro, rango de visión 30 mm
Modos
Modos estándar Modo de contacto, modo pulsación (incluyendo imagen de fase), microscopio de fuerza lateral, curva fuerza distancia
Modos opcionales Imagen de la amplitud de la resistencia al contacto
Dimensiones y peso
Tamaño (largo x ancho x alto), unidad de AFM490 mm x 410 mm x 505 mm
Dimensiones (largo x ancho x alto), controlador340 mm x 305 mm x 280 mm
Peso, unidad de API51.1 kg
Peso, controlador7.8 kg

* mejora opcional a 90 µm x 90 µm
** mejora opcional a 12 µm o 15 µm
Tosca es una marca registrada (013412143) de Anton Paar.

Anton Paar Certified Service

La calidad de Anton Paar en servicio y soporte:
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