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Microscopios de fuerza atómica:
Tosca

Modelo:
  • Top-level AFM for entry-level budgets
  • Portamuestras más grande en el segmento de precios (50 mm totalmente direccionable)
  • Tiempo de medición más rápido del mercado (solo 3 minutos).
  • Tamaño de escaneo de 15 µm en Z y 90 µm x 90 µm en dirección X e Y
  • Intercambio de cantiléver en menos de 10 segundos.
  • Todos los modos en el mismo punto de muestra sin cabezal de intercambio
  • Portamuestras más grande en el segmento de precios (200 mm para obleas)
  • Automatización en el mayor nivel de hardware y software para su AFM
  • Tiempo de medición más rápido del mercado (solo 3 minutos).
  • Intercambio de cantiléver en menos de 10 segundos.
  • Todos los modos en el mismo punto de muestra sin cabezal de intercambio
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AFM de nivel superior para presupuestos básicos: con las configuraciones de la medición más rápidas y el portamuestras más grande, la serie Tosca marca el ritmo de su análisis AFM de nanosuperficies.

Tosca es la primera elección para investigadores, pioneros, pensadores y constructores en nanotecnología de las ciencias de los materiales.

Cambiar de modo con intercambio de cabezal es el pasado: los microscopios de fuerzas atómicas Tosca permiten medir exactamente el mismo punto utilizando todos los modos disponibles combinados en un solo cabezal.

Todo acerca del Paquete de atención al de Tosca

Beneficios

Características patentadas inteligentes que cubren cada paso durante el procedimiento de medición AFM que crean un flujo de trabajo único y altamente optimizado que habilita resultados 10 veces más rápido que con los sistemas AFM convencionales.

Puede comenzar a medir en 1 hora en vez de pasar días aprendiendo a operar el AFM. Carga de cantiléver rápida y segura en segundos, alineación automática del láser, navegación de muestra más intuitiva y el más seguro procedimiento de enganche en el mercado, que lo lleva a su objetivo: más tiempo para focalizarse en los resultados de la investigación.

Aprender a usar el AFM
Aprender a usar el AFM
  • El entrenamiento toma solo 1 hora
  • 12 veces más rápido que los AFN convencionales

Desafío

Quiero comenzar inmediatamente. ¿Cuánto me lleva aprender a usar Tosca?

Solución

Tosca es tan fácil de operar que el entrenamiento para su uso con el modo estándar lleva solo una hora.

Sus ganancias y tiempo

Con Tosca puede comenzar su primera medición luego de una hora de entrenamiento, en vez de un día y medio con los microscopios de fuerza atómica comunes.

Preparación de muestras para medición
Preparación de muestras para medición
  • Sin preparación previa de la muestra
  • Mida muestras grandes de forma directa
  • Etapa de muestras: 100 mm de diámetro (hasta 200 mm de diámetro para obleas), 25 mm de altura 

Desafío

El corte y rebanado de muestras traer daño y contaminación. ¿Cómo lo evito?

Solución

Olvídese de la preparación de la muestra asociada al riesgo de contaminación o de resultados falsos. Con Tosca usted puede medir muestras grandes de hasta 25 mm en altura y de hasta 100 mm de diámetro de manera directa.

Sus ganancias y tiempo

Con Tosca obtiene resultados precisos y pueden saltar el paso tan tedioso de la preparación. Ahorro de tiempo: hasta 15 minutos, depende de la muestra.

Carga del cantiléver
Carga del cantiléver
  • Posicionamiento de su cantiléver en 10 segundos
  • Alineación correcta al 100%
  • Cantiléver sin roturas

Desafío

El intercambio de cantiléver y posicionamiento es difícil y requiere mucho tiempo. ¿Hay una mejor manera?

Solución

Utilice el Probemaster patentado para un cantiléver de manos libres con intercambio en 10 segundos.

PATENTE: AT520313 (B1)

Sus ganancias y ahorro de tiempo

Probemsater posiciona rápidamente su cantiléver, previene el daño y habilita el alineamiento apropiado.

Carga de la muestra
Carga de la muestra
  • Cargue múltiples muestras y mídalas todas en una sola ejecución.
  • Ahorre hasta 20 minutos en reemplazo repetido de muestras
  • Asegure el portamuestras con el cierre magnético

Desafío

¿Es posible cargar más de una muestra para agilizar el proceso?

Solución

Cargue múltiples muestras y mídalas en una sola ejecución. El cierre magnético patentado de Tosca asegura el posicionamiento estable de muestras.

PATENTE: AT515951 (B1)

Sus ganancias y ahorro de tiempo

Prepare las muestras en el gran portamuestras en el lugar de su elección y confíe en un posicionamiento estable. Mida múltiples muestras en un sólo paso. Ahorro de tiempo: depende del usuario, hasta 20 minutos por muestra.

Alineación láser
Alineación láser
  • Alineación totalmente automática del láser en 5 segundos
  • Con el software, solo toma dos clics del mouse.

Desafío

El alineamiento manual del láser es un procedimiento tedioso que requiere de experiencia también. ¿Hay alguna otra alternativa?

Solución

Tosca proporciona alineación totalmente automática del láser en 5 segundos

PATENT: AT520419 (B1)

Sus ganancias y ahorro de tiempo

La alineación automática del láser de Tosca lo hace a usted un experto en alineación. Solo le toma dos clics del mouse en el software. Ahorro de tiempo: hasta 5 minutos por alineación.

Acercamiento
Acercamiento
  • La cámara patentada de vista lateral le muestra la posición exacta del cantiléver sobre la superficie
  • Acercamiento seguro y rápido
  • Sin riesgo de rotura de cabezal

Desafío

Conseguir el acercamiento correcto es dificultoso ¿Cómo puedo evitar la rotura del cabezal y lidiar con geometrías complejas, muestras transparentes y muestras integradas en vidrio?

Solución

La cámara de vista lateral patentada de Tosca permite el procedimiento de enganche más fácil y más seguro del mercado.

PATENTE: EP3324194B1  

Sus ganancias y ahorro de tiempo

Utilizar la vista horizontal del cantiléver sobre la superficie de la muestra le permite monitorear de manera visual el acercamiento. Ahorro de tiempo: depende de la muestra y del usuario, de 5 a 10 minutos con significativo bajo riesgo de fallos.

Navegación
Navegación
  • Tres cámaras permiten visualizar la muestra a todos los niveles.
  • Solo haga clic y vaya a la vista de la escala en cm, µm o nm.
  • Ahorre de 5 a 10 minutos por medición

Desafío

Hallar el área de interés de la muestra requiere tiempo y paciencia. ¿Cómo se puede optimizar este procedimiento?

Solución

El microscopio de fuerza atómica Tosca implementa una navegación intuitiva: solo haga clic en la región de interés para navegación automática inmediata en vez del posicionamiento manual que consume tiempo.

Sus ganancias y ahorro de tiempo

La navegación requiere solamente un simple clic de mouse, sobre una gran escala posible desde cm, µm hasta nm con tres cámaras integradas. Ahorro de tiempo: 5 a 10 minutos por medición con el beneficio adicional de la conveniencia.

Análisis de datos
Análisis de datos
  • Guarda siempre los datos en bruto y rastrea el impacto de todos los pasos de análisis.
  • Plantillas y análisis de lote
  • Informe completo en 5 segundos

Desafío

Necesito un software de análisis con un rango de posibilidades de análisis y plantillas. También necesito la opción de rastreo de todos los pasos de análisis.

Solución

Utilice las plantillas de análisis de Tosca AFM para obtener informes completos en segundos. Se graba cada operación de análisis individual por lo que usted puede rastrear el manejo de datos en bruto en todo momento.

Sus ganancias y ahorro de tiempo

Solo necesita cargar los datos en bruto, también los múltiples datos de mediciones de lote y tendrá el informe completo en 5 segundos. Ahorro de tiempo: hasta 20 minutos por informe de análisis.

Muestra de polímero
  • Imagen de la amplitud de la resistencia al contacto
  • Tamaño de la imagen 10 µm x 10 µm
  • Resolución 500 px x 500 px

Detalles

Mezcla de polímero PMMA/SBS Superposición de topografía y propiedades mecánicas. Tamaño de imagen: 100 µm x 100 µm, resolución 500 px x 500 px.

Modo

Imagen de la amplitud de la resistencia al contacto

Tema de investigación

La distribución de ambos polímeros define las propiedades mecánicas de las películas finas. El modo CRAI se usa para topografía como también como fase de análisis

Muestra de nanofibras
  • Modo pulsación
  • Tamaño de la imagen 25 µm x 25 µm
  • Resolución 1000 px x 1000 px

Detalles

Red de fibras de policaprolactona (PCL) Imagen topográfica de alta resolución para evaluación de dimensiones críticas. Tamaño de imagen: 100 µm x 100 µm, resolución 1000 px x 1000 px.

Modo

Modo pulsación

Tema de investigación

Las nanofibras de PCL son un material promisorio para aplicaciones biomédicas variadas. El análisis topográfico revela el diámetro de las nanofibras entre 80 nm y 400 nm.

Muestra microelectrónica
  • Microscopio de fuerza atómica conductiva
  • Tamaño de la imagen 564 nm x 564 nm
  • Resolución 400 px x 400 px

Detalles

Los componentes microelectrónicos consisten en partículas de óxido conductivo en una matriz de vidrio aislada. Superposición de topografía y mapa de corriente. Tamaño de imagen: 564µm x 564 µm, resolución 400 px x 400 px.

Modo

Microscopio de fuerza atómica conductiva

Tema de investigación

El C-AFM puede usarse para identificar eléctricamente los puntos débiles en revestimientos dieléctricos o para representar las rutas conductivas en componentes microeléctricos y materiales para electrodos.

Muestra de oblea pulida
  • Modo pulsación
  • Tamaño de la imagen 1 µm x 1 µm
  • Resolución 500 px x 500 px

Detalles

(100) superficie orientada de la oblea de silicona. Imagen topográfica de alta resolución para evaluación de superficies rugosas. Tamaño de la imagen 1 µm x1 µm, resolución 500 px x 500 px, rugosidad superficial RMS 137 pm.

Modo

Modo pulsación

Tema de investigación

La rugosidad de la superficie de las obleas es un parámetro de calidad importante para los procesos posteriores de microestructuración. Los sistemas de AFM deben ser capaces de obtener imágenes de la superficie de materiales muy pulidos con una rugosidad superficial muy baja, del orden de 150 pm, con gran calidad y confiabilidad. 

Muestra de puntos cuánticos
  • Modo pulsación
  • Tamaño de la imagen 1200 nm x 750 nm
  • Resolución 800 px x 800 px

Detalles

Puntos cuánticos (QD) de arseniuro de indio (InAs) autoensamblados en arseniuro de galio (GaAs) cultivados en una superficie orientada (100) de una oblea de arseniuro de galio. Imagen topográfica de alta resolución para evaluación de la dimensión y de la distribución lateral de los QD. Tamaño de imagen: 1200µm x 750 µm, resolución 800 px x 800 px.

Modo

Modo pulsación

Tema de investigación

Los puntos cuánticos (QD) son un campo intensamente investigado debido a su potencial aplicación futura en electrónica y digitalización. Las dimensiones de cada QD y su distribución lateral constituyen una información importante para el proceso de producción. Las terrazas visibles en la imagen son los escalones atómicos del material del sustrato de GaAs, con una altura de escalón individual de aproximadamente 280 pm.

Especificaciones técnicas

Tosca 400 Tosca 200
Escáner
Rango de escaneado X-Y 100 µm x 100 µm 50 µm x 50 µm*
Rango de escaneado Z 15 µm 10 µm**
Ruido del sensor Z 5:00 pm***
Velocidad máx. de escaneado 10 líneas/s 5 líneas/s
Muestra
Diámetro máx. de la muestra 100 mm (200 mm****) 50 mm
Altura máx. de la muestra 25 mm (2 mm****)
Peso máx. de la muestra ≤600 g
Repetibilidad de la posición
(unidireccional)
<1 µm
Microscopio con video
Cámara Color, 5 megapíxeles, sensor CMOS
Campo de visión 1,73 mm x 1,73 mm
Resolución espacial 5 µm
Foco Foco monitorizado
Cámara de vista general
Cámara Color, 5 megapíxeles, sensor CMOS
Campo de visión 40 mm x 40 mm
Resolución espacial 50 µm
Cámara de vista lateral
Cámara de vista lateral Blanco y negro, rango de visión 30 mm
Modos
Modos estándar Modo de contacto, modo pulsación (incluyendo imagen de fase), microscopio de fuerza lateral, curva fuerza distancia
Modos opcionales Imagen de la amplitud de la resistencia al contacto, microscopio de fuerza magnética, microscopio de fuerza de sonda Kelvin, microscopio de fuerza electrostática, microscopio de fuerza atómica conductiva, microscopio de fuerza atómica conductiva de control de corriente
Dimensiones y peso
Tamaño (largo x ancho x alto), unidad de AFM 490 mm x 410 mm x 505 mm
Dimensiones (largo x ancho x alto), controlador 340 mm x 305 mm x 280 mm
Peso, unidad de API 51,1 kg
Peso, controlador 7,8 kg

* actualización opcional a 90 µm x 90 µm

** actualización opcional a 12 µm x 15 µm

*** Valor medio de los cuerpos de los actuadores producidos; valor máximo 80 pm

*** al usar el portamuestras para obleas (opcional)

Tosca es una marca registrada (013412143) de Anton Paar.

Servicio Certificado Anton Paar

La calidad de Anton Paar en servicio y soporte:
  • más de 350 expertos técnicos certificados por el fabricante en todo el mundo
  • Soporte calificado en su idioma local
  • Protección para su inversión durante todo su ciclo de vida
  • 3 años de garantía
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Documentos

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Accesorios

Accesorios

Accesorios

Accesorios

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Precio exclusivo en línea | excl.incl. 0IVA

Accesorio para Tosca AFM:
Aislamiento de vibraciones

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Tiempo de entrega: %1$s – %2$s días laborables %1$s – %2$s semanas %1$s – %2$s meses
Detalles del producto
  • Rendimiento de hasta -40 dB, a 10 Hz - aislando el 99,0 % de las vibraciones
  • Efecto aislante comienza en 0,6 Hz
  • Ajuste de la carga totalmente automático
  • No requiere de aire comprimido

Más información

Accesorio para Tosca AFM:
recinto acústico

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Tiempo de entrega: %1$s – %2$s días laborables %1$s – %2$s semanas %1$s – %2$s meses
Detalles del producto
  • Protege el Tosca AFM del ruido ambiental
  • Atenuación acústica de hasta 40 dB

Más información

Accesorios para Tosca 400 AFM:
portaobleas

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Tiempo de entrega: %1$s – %2$s días laborables %1$s – %2$s semanas %1$s – %2$s meses
Detalles del producto
  • Para obleas de 4, 6 y 8 pulgadas
  • Portaobleas totalmente direccionable
  • Diseñado para la manipulación de obleas con pinzas de vacío
  • Mediciones múltiples automatizadas

Más información

Herramienta de intercambio de cantilever para el AFM Tosca:
Probemaster

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Tiempo de entrega: %1$s – %2$s días laborables %1$s – %2$s semanas %1$s – %2$s meses
Detalles del producto
  • Intercambio fácil y seguro de cantilever en menos de 10 segundos.
  • Alineación automática correcta al 100%
  • No se rompen los cantilever por errores de manipulación

Más información

Software para AFM:
Tosca Control y Tosca Analysis

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Más información
Tiempo de entrega: %1$s – %2$s días laborables %1$s – %2$s semanas %1$s – %2$s meses