2017-09-21 | Corporate

Produktstart für das AFM

Ab sofort ist das Atomkraftmikroskop ToscaTM 400 von Anton Paar im Verkauf gelistet. Das High-End-Produkt misst Oberflächeneigenschaften im Nanobereich und wurde speziell für Kunden aus dem Industriebereich entwickelt. Dank der Automatisierung, die es in jedem Anwendungsschritt gibt, ist es einfach zu bedienen. Bisher waren Atomkraftmikroskope kompliziert in der Anwendung und wurden daher hauptsächlich in der Wissenschaft und von Forschungszentren eingesetzt, was auch heute noch so ist.
Tatsache aber ist, dass es vonseiten bestimmter Industrien eine steigende Nachfrage nach komplexer Oberflächencharakterisierung im Nanobereich gibt. Das ToscaTM 400 ist die Antwort auf diese Nachfrage, da es bedienerfreundlich ist und somit von Industrie-Anwenderinnen und -Anwendern gleichermaßen eingesetzt werden kann wie von der Wissenschaft.

Das Atomkraftmikroskop passt hervorragend in das Produktportfolio von Anton Paar und wird in der Halbleiterindustrie (z. B. Überprüfung der Oberflächenrauigkeit) und im Bereich der Materialwissenschaften (z. B. für technische Keramiken, Metalle, Glas, Graphen) angewendet.

Für das Messinstrument ist Zubehör wie eine aktive Vibrationsentkoppelung und eine Akustikhaube erhältlich. Tests bei Kunden in den vergangenen Monaten haben gezeigt, dass das ToscaTM 400 mehr als bereit ist, um den weltweiten Atomkraftmikroskop-Markt zu erobern.