Accessoire pour MCR :
Cône-plan partitionné

Pour les échantillons viscoélastiques lors de la réalisation d'essais LAOS et transitoires
Réduit l'impact des effets de fracture de bord
Réduit les erreurs dues à l'ébavurage des échantillons

Cône-plan partitionné

Caractéristiques principales
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Lors de la mesure d'échantillons viscoélastiques tels que les polymères fondus, combinez le MCR 702e MultiDrive - comprenant deux moteurs EC en mode SMT (Separate Motor Transducer) - avec la géométrie spéciale du cône-plan partitionné pour éliminer les erreurs de mesure dues à un remplissage inégal ou à des effets de flux secondaires. Ce dispositif permet une caractérisation précise des matériaux grâce à des mesures de cisaillement oscillatoires à grande amplitude (LAOS) et à des essais transitoires.

Caractéristiques principales

Réduire les erreurs de mesure dues aux effets de fracture des bords

Lors de l'essai de matériaux viscoélastiques ayant des propriétés hautement élastiques, les effets de rupture de bord peuvent entraîner un remplissage incomplet de l'espace, ce qui limite la caractérisation de ces matériaux à de grandes déformations ou à des taux de cisaillement élevés. Au moyen d'un rhéomètre équipé de deux moteurs EC fonctionnant en mode SMT et combiné à l'accessoire cône-plan partitionné, les propriétés de l'échantillon sont directement mesurées au centre de l'échantillon. Cela élimine l'impact des effets perturbateurs sur la surface extérieure. Ainsi, vous augmentez la plage de mesure des échantillons viscoélastiques lors des essais LAOS et des essais transitoires (par exemple, le cisaillement de démarrage).

Découpage imprécis de l'échantillon sans influence sur les résultats

L'accessoire cône-plan partitionné se compose d'une plaque cloisonnée supérieure et d'un cône inférieur. Alors que la plaque extérieure supérieure a le même diamètre extérieur que le cône inférieur, la plaque intérieure de la géométrie supérieure a un diamètre beaucoup plus petit. Pendant la mesure, la plaque extérieure est utilisée pour fixer l'échantillon dans l'espace, tandis que seule la plaque intérieure est utilisée pour mesurer les contraintes à l'intérieur de l'échantillon. Comme la partie extérieure de l'échantillon n'est pas utilisée pour mesurer les propriétés de l'échantillon, un ébavurage inexact de l'échantillon n'affecte pas la précision de la mesure. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des données précises, même avec un temps de préparation des échantillons limité.

Mesurer et contrôler la température là où c'est important

Le système de mesure inférieur comprend un capteur de température pour augmenter la précision de la détermination de la température. Le capteur est positionné directement dans le système de mesure et très proche de l'échantillon, ce qui réduit les décalages possibles entre la température de l'échantillon et la température mesurée au niveau du capteur. En combinaison avec la technologie optoélectronique innovante d'Anton Paar, une détermination précise de la température de l'échantillon est possible, même lors de changements de température par paliers ou en rampe, sans affecter la sensibilité du couple en mode SMT.

Configuration simple d'un système complexe

Nous savons que même les systèmes complexes doivent être faciles à manipuler. C'est dans cet esprit que nous avons conçu chaque composant et créé chaque étape de manipulation pour un fonctionnement sans heurts. La fonction Toolmaster™ pour le système de mesure à la fois supérieur et inférieur, permet la reconnaissance et la configuration automatiques des outils sans aucune configuration manuelle dans le logiciel. La fonction QuickConnect permet de changer rapidement la plaque intérieure supérieure et le cône inférieur. En outre, la conception du cône-plan partitionné permet un alignement facile de toutes les cloisons géométriques en quelques minutes seulement.