Cámara térmica de tiras de alta temperatura:
HTK 16N | HTK 2000N

Soporta estudios de XRD in situ a temperaturas de hasta 1,600 °C o 2,300 °C
Desplazamiento de muestra minimizado con posicionamiento estable del filamento de calentamiento
Control de temperatura preciso con termopares duales y gradientes mínimos
Diseño duradero con materiales de alta calidad y cambio de muestras rápido y fácil

HTK 16N | HTK 2000N

Características principales
Especificaciones
Documentos
Instrumentos compatibles

Las cámaras de alta temperatura HTK 16N and HTK 2000N son instrumentos bien probados para estudios de difracción de rayos X in-situ hasta 1600 °C y 2300 °C, respectivamente. La muestra se calienta directamente con un filamento térmico. El diseño de HTK 16N y HTK 2000N le permite trabajar a altas temperaturas en diferentes atmósferas. Los instrumentos están hechos de materiales de alta calidad, lo que garantiza una larga vida útil.

Especificaciones

Temperatura de funcionamiento
Medición de temperatura
Filamento térmico de tungsteno al vacío (≤2.10^-4 mbar)	De 25 °C a 2.300 °C (HTK 2000N)
Filamento térmico de platino (al vacío aire, gas inerte)	25 °C a 1600 °C (HTK 16N / HTK 2000N)
Filamento térmico grafito para vacío (≤2.10^-4 mbar)	De 25 °C a 1500 °C (HTK 16N)
Nitrógeno	1400 °C (HTK 16N)
Helio	1300 °C (HTK 16N)
Para filamentos de Pt	Pt 10% RhPt termopar
Para filamentos calentadores W	W 3% Re-W 25% Re termopar
Para filamentos C	Pt 10% RhPt termopar
Atmósferas	Vacío (10^-4mbar), aire, gas inerte
Máx. presión de funcionamiento	0.5 bar sobre la presión atmosférica
Ángulo de incidencia	De 4 a 164° 2Θ
Geometría de la medición	Reflexión