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Le proprietà delle superfici di pellicole sottili e rivestimenti funzionali per semiconduttori e applicazioni nel campo dell'energia sostenibile

Volete scoprire di più sulle varie tecnologia per la caratterizzazione delle superfici di sistemi diversi, compresi i semiconduttori e i campioni sul campo di energia sostenibile?

Guardate questo webinar gratuito per approfondire le vostre conoscenze circa gli aspetti teorici di diversi metodi analitici e applicazioni selezionate. Il webinar tratta, tra l'altro, come scegliere correttamente lo strumento per la caratterizzazione delle superfici e le interfacce: dai microscopi a forza atomica ai  nano scratch tester, ai sistemi GISAXS (sistemi di diffrazione di raggi X a incidenza radente).

Tra i vari argomenti affrontati:

  • Topografia, mediante microscopio a forza atomica, della superficie di strati sottili destinati alla fabbricazione di chip
  • Analisi delle proprietà strutturali mediante sistemi di diffrazione di raggi X a incidenza radente (GISAXS)
  • Test nano-scratch per celle fotovoltaiche e semiconduttori
  • Caratterizzazione dei wafer semiconduttori con strati superiori diversi (ossido di silicio, nitruro di silicio, rame, tungsteno)

 

 

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