基礎から学ぶ小角X線散乱法 - 第3回 IFT/GIFT法による実空間構造の解析
IFT/GIFT法による実空間構造の解析
小角X線散乱法（SAXS）は、液体や固体中に分散した1~100 nmのナノ粒子のサイズ、形状、内部構造を非破壊で調べることができる測定手法です。
医薬品、高分子材料、界面活性剤、ナノチューブ、ナノファイバーなど様々な試料を測定でき、近年ますます活用事例が増えています。
このウェビナーでは、SAXSとは何か基礎から実際の応用例まで、なるべく数式を使わずに解説します。
（2020年開催のSAXS入門ウェビナーの内容を一部含みます。）
「IFT/GIFT法による実空間構造の解析」について
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本ウェブセミナーで学べること
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IFT法/GIFT法について聞いたことはあっても中身をよく知らないという方に最適な内容です。
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どのような場合に活用できる解析方法なのか、実際の解析例から学ぶことができます。
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受講対象者：SAXSの測定に携わる方
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参加費用：無料
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使用システム：Cisco Webex ウェビナー
ご注意：同業他社の方のお申込みはお断りすることがございますので予めご了承ください
このほかにもウェブセミナーの開催予定が複数ございます。ウェブセミナー名をクリックして詳細情報をご覧ください。
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基礎から学ぶ小角X線散乱法(全3回シリーズ)
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第1回 6/30(金)14:00開催：SAXSの基礎と粒子サイズの決定
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第2回 7/11(火)14:00開催：SAXSの基礎と粒子形状の解析(モデルフィッティング法)
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カタログにのっていない次世代XRD装置の性能(全3回シリーズ)
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第1回 8/8(火)14:00開催：真空パスでバックグラウンドはどこまで低くなる？
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第2回 8/22(火)14:00開催：全自動アライメントはどこで役立つのか？
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第3回 9/12(火)14:00開催：ゴニオメーター半径とXRDデータの関係
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SAXSpoint 5.0の詳細情報はこちらからご覧ください。
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