SAXS

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您的精簡型實驗室 SAXS 系統

安東帕的解決方案精確可靠,為 SAXS/WAXS/GISAXS 奈米結構材料的日常研究,提供出色的解析度及最佳的資料品質。堅固的系統採用明亮的 X 射線及無散射光束準直,並配備了各種樣本台,以涵蓋許多不同的應用。

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Anton Paar 產品

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5 大理由

獲益於高品質資料

安東帕的 SAXSpoint 2.0 及 SAXSpace 小角度 X 射線散射系統採用了出色的 X 射線源及光學系統,可產生最大光譜純度及光通量的 X 射線束。結合系統的無散射光束準直及最先進的混合光子計數 (HPC) 偵測器,您可以信任高信噪比及完美的整體資料品質。

應用的靈活性

安東帕奈米結構分析儀為奈米結構樣本提供了十分全面、用途廣泛的樣本台選擇。無論您要進行在受控溫度、濕度、壓力或氣體反應測量下的奈米結構表面、拉伸測試或結構研究,安東帕 SAXS/WAXS/GISAXS 系統都能夠輕易配置以定義奈米結構樣本。

同時受益於 SAXS/WAXS 功能

對奈米結構材料的完整分析,需要在各種散射角度下的 X 射線散射資料。安東帕奈米結構分析儀能夠自動同時進行 SAXS 及 WAXS 測量,在小角度範圍內提供卓越的角解析度,並在寬散射角度下提供散射資訊。

每天享有可靠的奈米研究

分析儀運作時間長、維護成本低且操作可靠。其創新且可靠的設計確保了可用程度,也可提供高樣本處理量。平穩的運作以及持續穩定的優異測量結果,有效支援您奈米結構材料的研究。

依靠深厚的應用知識

您的奈米結構分析儀獲得了最好的維護:系統安裝好並試運作後,專業的安東帕專家將提供全面的現場使用者培訓,幫助您充分利用系統。安東帕具有 60 年的經驗,已成為 SAXS/WAXS/GISAXS 奈米結構分析領域最成功可靠的合作夥伴。