PSA 系列

安東帕的 PSA 系列有著五十多年的歷史。1967 年,世界首款雷射繞射粒度分析儀:第一部 PSA 研發完成。我們總共設計了 PSA 990、PSA 1090 和 PSA 1190 三個型號,用於測量懸浮液或固體粉末中的各種粒徑。

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關鍵功能

多雷射技術適用於各種粒徑

多雷射技術為您提供了廣闊的粒徑範圍的測量。單雷射器 PSA 990 的測量範圍達到 0.2 μm 至 500 μm。為擴大測量範圍,PSA 1090 及 PSA 1190 採用獨特的繞射分析光學設計,包含多組雷射。PSA 1090 設計採用雙雷射器處理小至 40 奈米的顆粒,PSA 1190 則添加了第三個雷射器,整個測量範圍擴展到 2.5 毫米。

乾濕樣本,一次備齊

PSA 儀器是唯一可在一部儀器內全面整合濕式及乾式分散模式的粒度分析儀。這一獨特設計使操作人員無需操作多個配件或進行手動調整。此軟體只需輕點滑鼠,即可在乾、濕分散模式之間切換,既節省時間,又可避免操作失誤。在分散模式之間切換時,無需更換硬件、重新驗證或重新校準光路的準直。

準確的粒度分佈結果

由於固體粉末容易結塊而導致測量結果錯誤,所以通常很難測量固體粉末的粒度分佈。Dry Jet Dispersion(DJD) 技術是安東帕的專利技術 (FR2933314),用於有效分散和精確分析粉末粒子。該創新設計採用一個空氣壓力調節器,可以根據樣本特性快速輕鬆地調節氣流。氣流產生的剪切力將結塊的顆粒分開,這樣就可以測量單個顆粒的粒徑。

終身保證精度、可重複性和穩定性

安東帕的粒度分析儀完全符合 ISO 13320 標準,可符合可追溯、準確及可重複測量結果的需求。雷射器和光學試驗台的獨特設計確立了再現性高於 1 % 的市場標準。此外,獨特的光學試驗台設計使所有光學部件永久安裝在鑄鐵底座上。確保即使在最惡劣的環境中操作也無需重新準直。因此,在粒度分析儀的整個使用期限內可保證精度、可再現性和穩定性。 

技術參數

PSA 990PSA 1090PSA 1190
測量原理雷射繞射
測量範圍 (乾) 0.3 μm 至 500 μm0.1 μm 至 500 μm0.1 μm 至 2500 μm
測量範圍 (濕) 0.2 μm 至 500 μm0.04 μm 至 500 μm0.04 μm 至 2500 μm
乾式分散文丘裡文丘裡文丘裡/自由下落
濕式分散2 個蠕動泵/超聲波傳感器/攪拌器
可重複性1 %
準確度3 %
測量時間<1 min
雷射器數量123
雷射器安全等級FDA Title 21 CFR - Part 1040 & EN 60825-1:2014
雷射級別、封閉蓋 EN 60825-1:2014 Class 1
雷射級別、開口蓋 EN 60825-1:2014 級別 3R
數位數據安全FDA Title 21 CFR - Part 11
電磁相容性 MCP 61326/-1/2013
低壓EN 61010-1:2010 & EN 61010-2-081:2015
尺寸 (長 x 深 x 高) 890 mm x 530 mm x 430 mm (35 吋 x 21 吋 x 17 吋)
重量55 kg

安東帕認證服務

安東帕的服務與支援品質:
  • 全球超過 350 位經過認證的技術專家
  • 以當地語言提供的合格支援
  • 在設備的整個生命週期中,為您投資的設備提供保障
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