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微米壓痕測試儀:MHT³

更大的儀器壓痕測試 (IIT) 的載荷範圍

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零件編號: 163249
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根據儀器壓痕測試 (IIT) 要求,微米壓痕儀非常適合於對硬度和彈性模量等機械性能進行測量。適用於塊狀樣本及薄膜,從軟材料到硬材料 (金屬、陶瓷、聚合物),可以進行大位移測量 (最大 1 mm)。可以根據選擇添加劃痕測試模式。

主要功能

儀器化壓入測試 (IIT) 用於測量硬度和彈性模量

  • 位移-儀器壓痕:持續監控與施加的壓入載荷和相關的壓入位移,以測量材料硬度和彈性模量

一台儀器即可測量從奈米到宏觀尺度的壓痕

  • 從小位移 (幾奈米的表面檢測) 到大位移 (最大 1 mm) 的壓痕
  • 大載荷範圍 (從 10 mN 到 30 N) 以滿足樣本特性的要求
  • 大載荷 對測量粗糙表面尤為有用

高精確度的位移及壓入載荷,可進行準確的壓痕測量

  • 兩個獨立的傳感器:一個用於壓入載荷,一個用於壓入位移,來進行準確的計量測量
  • 高框架剛度2 x 108 N/m,提供更高的位移準確度

材料性能的深度曲線

  • 連續多週期 (CMC) 的位移曲線:硬度和彈性模量與壓入位移的關係
  • 壓入載荷控制和位移控制模式
  • 可視點陣模式通過顯微鏡觀察對樣本進行多點定位測試通過
  • 多個測試模式:可使用使用者自訂程序根據需要設置測試參數

典型應用

  • 冶金:用於高載荷和/或微硬度的大塊金屬、合金 (粗糙表面)
  • 聚合物 (散裝材料和粗糙表面) 的特性分析
  • 透過儀器化壓痕表徵熱噴塗層
  • 塗層表面的物理特性
  • 膠結材料的力學性能

技術規格

壓入載荷
最大壓入載荷 30 N
分辨率 6 μN
雜訊背景 <100 [rms] [μN]*
壓入位移
最大壓入位移 1000 μm
分辨率 0.03 nm
雜訊背景 <1.5 [rms] [nm]*
 
載荷框架剛度 > 107 N/m
國際標準 ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507,
ASTM E384

*在理想的實驗室條件下使用防振台所指定的雜訊背景值。

標準

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