根據儀器壓痕測試 (IIT) 要求，微米壓痕儀非常適合於對硬度和彈性模量等機械性能進行測量。適用於塊狀樣本及薄膜，從軟材料到硬材料 (金屬、陶瓷、聚合物)，可以進行大位移測量 (最大 1 mm)。可以根據選擇添加劃痕測試模式。
主要功能
儀器化壓入測試 (IIT) 用於測量硬度和彈性模量
- 位移-儀器壓痕：持續監控與施加的壓入載荷和相關的壓入位移，以測量材料硬度和彈性模量
一台儀器即可測量從奈米到宏觀尺度的壓痕
- 從小位移 (幾奈米的表面檢測) 到大位移 (最大 1 mm) 的壓痕
- 大載荷範圍 (從 10 mN 到 30 N) 以滿足樣本特性的要求
- 大載荷 對測量粗糙表面尤為有用
高精確度的位移及壓入載荷，可進行準確的壓痕測量
- 兩個獨立的傳感器：一個用於壓入載荷，一個用於壓入位移，來進行準確的計量測量
- 高框架剛度2 x 108 N/m，提供更高的位移準確度
材料性能的深度曲線
- 連續多週期 (CMC) 的位移曲線：硬度和彈性模量與壓入位移的關係
- 壓入載荷控制和位移控制模式
- 可視點陣模式通過顯微鏡觀察對樣本進行多點定位測試通過
- 多個測試模式：可使用使用者自訂程序根據需要設置測試參數
典型應用
- 冶金：用於高載荷和/或微硬度的大塊金屬、合金 (粗糙表面)
- 聚合物 (散裝材料和粗糙表面) 的特性分析
- 透過儀器化壓痕表徵熱噴塗層
- 塗層表面的物理特性
- 膠結材料的力學性能
技術規格
| 壓入載荷 | |
|---|---|
| 最大壓入載荷 | 30 N |
| 分辨率 | 6 μN |
| 雜訊背景 | <100 [rms] [μN]* |
| 壓入位移 | |
| 最大壓入位移 | 1000 μm |
| 分辨率 | 0.03 nm |
| 雜訊背景 | <1.5 [rms] [nm]* |
| 載荷框架剛度 | > 107 N/m |
| 國際標準 | ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507, ASTM E384 |
*在理想的實驗室條件下使用防振台所指定的雜訊背景值。
