Zalecane wyniki

Ultratwardościomierz w nanoskali (UNHT³)

Najwyższej jakości nanotwardościomierz o wysokiej rozdzielczości i wysokiej stabliności

Aparat UNHT³, nanotwardościomierz o ultra-wysokiej rozdzielczości z czujnikami siły rzeczywistej i przemieszczenia, jest stosowany do badania mechanicznych właściwości materiałów w nanoskali. UNHT³ praktycznie eliminuje efekt dryfu termicznego i zgodności dzięki unikalnemu, opatentowanemu aktywnemu systemowi powierzchni wzorcowej. Dlatego też doskonale nadaje się do długotrwałych pomiarów wszystkich rodzajów materiałów, w tym polimerów, bardzo cienkich i miękkich warstw.

Skontaktuj się WYSZUKIWARKA DOKUMENTÓW

Kluczowe cechy

Najlepszy nanotwardościomierz metrologiczny do pomiarów przy niskich siłach

  • Unikalna opatentowana aktywna górna powierzchnia wzorcowa: jeden wgłębnik odniesienia monitoruje położenie powierzchni próbki, natomiast wgłębnik pomiarowy wykonuje pomiary, przeprowadza eliminowanie problemów dot. dryfu termicznego i zgodności.
  • UNHT3 mierzy to, co inne urządzenia szacują: dwa niezależne czujniki głębokości i obciążenia zapewniają prawdziwą kontrolę siły i głębokości penetracji.
  • Duży zakres: od niskich do wysokich głębokości penetracji (od kilku nm do 100 μm) i od niskich do wysokich obciążeń (od 10 μN do 100 mN)

Nanotwardościomierz o najwyższej na rynku stabilności

  • Nieistotny dryf termiczny do 10 fm/s bez korekcji
  • Wyjątkowa stabilność długoterminowa do testów pełzania
  • Wysoka sztywność ramy (>108 N/m) nawet przy dużych obciążeniach
  • Unikalny materiał ZerodurÒ, który nie posiada rozszerzalności cieplnej i dlatego eliminuje wpływ zmian temperatury podczas pomiaru.

Tryb wgłębiania „Quick Matrix” oraz tryb „Script”

  • Szybka matryca pomiarów dzięki trybowi wgłębiania „Quick Matrix”: do 600 pomiarów na godzinę zgodnie z normą ISO14577 dla testów oprzyrządowanych twardościomierzy (IIT – Instrumented Indentation Testing)
  • Nowy tryb „Skrypt” do tworzenia szybszej i bardziej elastycznej analizy na podstawie automatycznie wyeksportowanych danych
  • Definicja protokołów pomiarowych oraz zarządzania wieloma próbkami do pomiarów automatycznych

Nanotwardościomierz wysokiej czułości do dokładnego wykrywania powierzchni

  • Wysoka czułość wykrywania powierzchni wraz z wykrywaniem sztywności
  • Pomiary zarówno miękkich żelów, jak i twardych materiałów
  • Rozdzielczość obciążenia 0,003 µN
  • Poziom szumu bazowego obciążenia poniżej 0,05 µN
  • Rozdzielczość głębokości 0,003 nm
  • Poziom szumu bazowego głębokości poniżej 0,03 nm

Wbudowana wszechstronność: Różne tryby badań i analizy

  • Różne tryby testowania: Cykle ciągów wielokrotnych (CMC), stała prędkość odkształcania, sekwencje zdefiniowane przez użytkownika, zaawansowana matryca
  • Tryb dynamicznej analizy mechanicznej (DMA) dostępny z trybem „Sinus”
  • Różne rodzaje analiz dla różnych właściwości mechanicznych: twardość, moduł sprężystości, moduł zachowawczy i współczynników strat, pełzanie, krzywe zmęczenia i rozciągania, analiza Hertza
  • Kontrola warunków środowiska: próżnia, ciecz, temperatura i wilgotność względna

Typowe zastosowania

  • Lepkosprężyste właściwości polimerów
  • Powłoki twarde (powłoki PVD, CVD): Zakres grubości mniejszy niż 1 mikron
  • Cienkie folie polimerowe
  • Twarde warstwy: Zakres grubości od 10 do 500 nm
  • Materiały optyczne i szkło: cienkie warstwy i/lub charakterystyki powierzchni
  • Jakość własna tkanki kostnej
  • Właściwości mechaniczne ultrananokrystalicznych folii diamentowych (UNCD)

Specyfikacja techniczna

Siła
Maks. siła 100 mN
Rozdzielczość 3 nN
Szum bazowy <0,05 [rms] [μN]*
Głębokość
Maks. głębokość 100 μm
Rozdzielczość 0,003 nm
Szum bazowy <0,03 [rms] [μN]*
 
Sztywność ramy nośnej > 10 7 N/m
Normy międzynarodowe ISO 14577, ASTM E2546

* Wartość szumu bazowego określona w idealnych warunkach laboratoryjnych, przy użyciu tabeli tłumienia drgań.

Sprawozdania z testów zastosowań