Jest to pole obowiązkowe.
Invalid
Nr katalogowy
Błąd weryfikacji!

Mikroskopy sił atomowych:
Tosca

Model:
  • Wysokiej klasy mikroskopy sił atomowych serii Tosca w podstawowej wersji
  • Największy stolik na próbki w swoim przedziale cenowym (50 mm do wykorzystania w pełni)
  • Najkrótszy czas przygotowania pomiaru na rynku (tylko 3 min.)
  • Rozmiar skanowania do 15 µm w osi Z i 90 µm x 90 µm w osiach X i Y
  • Wymiana dźwigni z sondą w mniej niż 10 sekund
  • Pomiar we wszystkich trybach w tym samym punkcie próbki bez wymiany głowicy
  • Największy stolik na próbki w swoim przedziale (do 200 mm w przypadku podłoży AFM)
  • Najwyższy poziom automatyzacji sprzętu i oprogramowania AFM
  • Najkrótszy czas przygotowania pomiaru na rynku (tylko 3 min.)
  • Wymiana dźwigni w mniej niż 10 sekund
  • Pomiar we wszystkich trybach w tym samym punkcie próbki bez wymiany głowicy
Cena dostępna tylko online | nie zaw.w tym 0VAT
Cena
na żądanie
Informacja o zakupie
Kupuj urządzenia Anton Paar w sklepie internetowym
Nr katalogowy:
Sprawdź dostępność w sklepie internetowym Zapytaj o cenę Kup ten produkt online
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy

Wysokiej klasy mikroskopy sił atomowych serii Tosca w podstawowej wersji z najkrótszym czasem konfiguracji pomiaru i największym stolikiem na próbki wyznaczają standardy nanoanalizy powierzchni w urządzeniach AFM.

Tosca to pierwszy wybór badaczy, pionierów, myślicieli i twórców w dziedzinie nanotechnologii i materiałoznawstwa.

Konieczność wymiany głowicy przy przełączaniu trybów stanowi przeszłość: Mikroskop sił atomowych Tosca umożliwia pomiar w dokładnie tym samym miejscu przy użyciu jednej głowicy, łączącej w sobie wszystkie dostępne tryby.

Wszystko o Pakiecie obsługi Tosca

Korzyści

Opatentowane inteligentne rozwiązania obejmujące każdy etap w procedurze pomiarowej AFM zapewniają niepowtarzalny, uproszczony sposób pracy umożliwiający uzyskanie wyników 10 razy szybciej niż w tradycyjnych systemach AFM.

Nie ma potrzeby spędzania wielu dni na naukę obsługi mikroskopu sił atomowych, pomiary można rozpocząć już po 1 godzinie szkolenia. Szybkie i bezpieczne ustawianie dźwigni z sondą w kilka sekund, automatyczne wyrównanie lasera, najbardziej intuicyjna nawigacja w obszarze próbki i najbezpieczniejsza procedura zbliżania sondy na rynku znacznie ułatwiają osiągnięcie celów badawczych i pozwalają skupić się na analizie wyników.

Nauka obsługi mikroskopu sił atomowych (AFM)
Nauka obsługi mikroskopu sił atomowych (AFM)
  • Szkolenie trwa tylko 1 godzinę
  • 12 razy szybciej niż dla tradycyjnych AFM

Wyzwanie

Natychmiastowe przystąpienie do pracy z urządzeniem. Ile czasu potrzeba, aby nauczyć się obsługi mikroskopu Tosca?

Rozwiązanie

Korzystanie z mikroskopu AFM Tosca jest tak proste, że szkolenie z zakresu jego obsługi w trybach standardowych zajmuje tylko 1 godzinę.

Korzyści i oszczędność czasu

Mikroskop Tosca umożliwia rozpoczęcie pierwszego pomiaru już po jednogodzinnnym szkoleniu, tymczasem w przypadku tradycyjnych mikroskopów sił atomowych proces szkolenia trwa 1,5 dnia.

Przygotowanie próbek do pomiaru
Przygotowanie próbek do pomiaru
  • Przygotowywanie próbek nie jest konieczne.
  • Bezpośredni pomiar dużych próbek.
  • Stolik na próbkę: średnica 100 mm (do 200 mm średnicy dla podłoży AFM), wysokość 25 mm 

Wyzwanie

Krojenie i dzielenie próbek może prowadzić do skażeń i uszkodzeń. Jak można tego uniknąć?

Rozwiązanie

Wyeliminowanie konieczności przygotowania próbek i związanego z nim ryzyka skażenia lub zafałszoawania wyników. Mikroskop Tosca umożliwia bezpośredni pomiar dużych próbek o wysokości do 25 mm i średnicy do 100 mm.

Korzyści i oszczędność czasu

Mikroskop Tosca AFM pozwala osiągnąć dokładne wyniki oraz pominąć uciążliwy etap przygotowania próbki. Oszczędność czasu: do 15 minut w zależności od próbki.

Ustawienie dźwigni sondy
Ustawienie dźwigni sondy
  • Ustawienie dźwigni sondy w 10 sekund
  • W 100% poprawne ustawienie
  • Pozwala uniknąć uszkodzeń dźwigni

Wyzwanie

Wymiana dźwigni sondy i jej ustawianie jest skomplikowanym i czasochłonnym procesem. Czy jest lepsze rozwiązanie?

Rozwiązanie

Opatentowana funkcja Probemaster, umożliwiająca bezdotykową wymianę dźwigni w 10 sekund

PATENT: AT520313 (B1)

Korzyści i oszczędność czasu

Funkcja Probemaster szybko ustawia dźwignię sondy, zapobiega uszkodzeniom i umożliwia prawidłową konfigurację.

Wprowadzanie próbki
Wprowadzanie próbki
  • Wprowadzanie wielu próbek i ich pomiar w pojedynczym cyklu.
  • Oszczędność do 20 minut na powtarzalnej wymianie próbek
  • Nośnik próbek zabezpieczany za pomocą blokady magnetycznej

Wyzwanie

Czy możliwe jest usprawnienie procesu poprzez wprowadzenie więcej niż jednej próbki?

Rozwiązanie

Wprowadzanie wielu próbek i ich pomiar w jednym cyklu. Opatentowana blokada magnetyczna w mikroskopie Tosca zapewnia stabilne umieszczenie próbek.

PATENT: AT515951 (B1)

Korzyści i oszczędność czasu

Dzięki stabilnemu pozycjonowaniu wystarczy umieścić próbki na dużym nośniu w wybranym miejscu. W jednym cyklu można doknać pomiaru wielu próbek. Oszczędność czasu: w zależności od użytkownika nawet 20 minut na próbkę.

Wyrównanie lasera
Wyrównanie lasera
  • W pełni automatyczne wyrównanie lasera w 5 sekund
  • Wystarczą dwa kliknięcia myszką w oprogramowaniu

Wyzwanie

Ręczne wyrównanie lasera to uciążliwa procedura, wymagająca doświadczenia. Czy jest jakaś alternatywa?

Rozwiązanie

Mikroskop Tosca oferuje w pełni automatyczne wyrównanie lasera w 5 sekund.

PATENT: AT520419 (B1)

Korzyści i oszczędność czasu

Dzięki automatycznemu wyrównaniu lasera mikroskopu Tosca każdy jest w stanie dokonać dokładnej regulacji. Wystarczą dwa kliknięcia myszką w oprogramowaniu Oszczędność czasu: do 5 minut na każdą operację wyrównania.

Zbliżanie sondy
Zbliżanie sondy
  • Opatentowana kamera boczna pokazuje dokładne położenie dźwigni z sondą nad powierzchnią
  • Szybka i bezpieczna metoda zbliżania sondy
  • Bez ryzyka uszkodzenia głowicy

Wyzwanie

Przyjęcie odpowiedniego sposobu zbliżania sondy jest trudne. Jak można uniknąć uszkodzenia głowicy przy skomplikowanej geometrii, przeźroczystych próbkach i próbkach w szkle?

Rozwiązanie

Opatentowana kamera boczna w mikroskopach Tosca umożliwia najbezpieczniejsze i najłatwiejsze przeprowadzenie procedury zbliżania sondy do powierzchni próbki na rynku

PATENT: EP3324194B1  

Korzyści i oszczędność czasu

Zastosowanie poziomego widoku dźwigni sondy nad powierzchnią próbki pozwala na wizualne monitorowanie procedury zbliżania. Oszczędność czasu: w zależności od próbki i użytkownika – 5 do 10 minut przy jednoczesnym znacznie mniejszym ryzyku niepowodzenia.

Nawigacja
Nawigacja
  • Trzy kamery zapewniają widok próbki na wszystkich poziomach.
  • Przejście do skali widoku w cm, µm lub nm za jednym kliknięciem
  • Oszczędność od 5 do 10 minut na pomiar.

Wyzwanie

Znalezienie pożądanego obszaru na próbce wymaga czasu i cierpliwości. Jak zoptymalizować tę procedurę?

Rozwiązanie

Mikroskop atomowy Tosca oferuje automatyczną nawigację do żądanego obszaru za pomocą kliknięcia w dany obszar zamiast czasochłonnego ręcznego ustawiania próbki.

Korzyści i oszczędność czasu

Nawigacja wymaga tylko jednego kliknięcia z możliwością wizualizacji w szerokiej skali od cm przez µm, po nm dzięki trzem wbudowanym kamerom. Zaoszczędzony czas: 5 do 10 minut na pomiar, a dodatkową korzyść stanowi wygoda nawigacji.

Analiza danych
Analiza danych
  • Zachowanie surowych danych i śledzenie wpływu na nie kolejnych etapów analizy.
  • Analiza szablonów i partii
  • Tworzenie raportów w 5 sekund

Wyzwanie

Potrzeba oprogramowania analitycznego o szerokim spektrum możliwości analitycznych i szablonów, a także umożliwiającego śledzenie każdego etapu analizy.

Rozwiązanie

Szablony analityczne mikroskopu Tosca AFM umożliwiają uzyskanie kompletnych raportów w kilka sekund. Każda indywidualna operacja analizy jest rejestrowana, dzięki czemu możliwe jest stałe śledzenie obróbki surowych danych.

Korzyści i oszczędność czasu

Wystarczy jedynie wprowadzić dane surowe oraz różne dane z pomiarów partii, a raport zostanie utworzony w ciągu 5 sekund. Oszczędność czasu: do 20 minut na każdy raport z analizy.

Próbka polimerowa
  • Obrazowanie na podstawie amplitudy rezonansowej kontaktu (CRAI)
  • Rozmiar obrazu 10 µm x 10 µm
  • Rozdzielczość 500 px x 500 px

Szczegóły

Mieszanka polimerowa PMMA/SBS. Superpozycja topografii i właściwości mechanicznych. Rozmiar obrazu 10 µm x 10 µm, rozdzielczość 500 px x 500 px.

Tryb

Kontaktowe obrazowanie na podstawie amplitudy rezonansowej (CRAI)

Temat badania

Dystrybucja obu polimerów definiuje właściwości mechaniczne cienkich warstw. Tryb CRAI można wykorzystać do analizy topografii i analizy fazowej.

Próbka z nanowłókien
  • Tryb przerywanego kontaktu
  • Rozmiar obrazu 25 µm x 25 µm
  • Rozdzielczość 1000 px x 1000 px

Szczegóły

Sieć włókien z polikaprolaktonu (PCL). Obraz topograficzny o wysokiej rozdzielczości do oceny wymiarów krytycznych. Rozmiar obrazu 25 µm x 25 µm, rozdzielczość 1000 px x 1000 px.

Tryb

Tryb przerywanego kontaktu

Temat badania

Nanowłókna PCL są obiecującym materiałem dla różnych zastosowań biomedycznych. Analiza topografii wskazuje że średnica nanowłókien mieści się w przedziale od 80 nm do 400 nm.

Próbka mikroelektroniczna
  • Przewodząca mikroskopia sił atomowych (C-AFM)
  • Rozmiar obrazu 564 nm x 564 nm
  • Rozdzielczość 400 px x 400 px

Szczegóły

Komponenty mikroelektroniczne składające się z przewodzących cząstek tlenkowych w izolującej matrycy szklanej. Superpozycja topografii i aktualnej mapy. Rozmiar obrazu 564 nm x 564 nm, rozdzielczość 400 px x 400 px.

Tryb

Przewodząca mikroskopia sił atomowych (C-AFM)

Temat badania

C-AFM może być wykorzystywana do identyfikacji elektrycznie słabych punktów w powłokach dielektrycznych lub do obrazowania ścieżki przewodności w komponentach mikroelektronicznych lub materiałach na elektrody.

Próbka polerowanego podłoża
  • Tryb przerywanego kontaktu
  • Rozmiar obrazu 1 µm x 1 µm
  • Rozdzielczość 500 px x 500 px

Szczegóły

(100) zorientowana powierzchnia podłoża silikonowego. Obraz topograficzny o wysokiej rozdzielczości do oceny chropowatości powierzchni. Rozmiar obrazu 1 µm x 1 µm, rozdzielczość 500 px x 500 px, chropowatość powierzchni RMS 137 pm.

Tryb

Tryb przerywanego kontaktu

Temat badania

Chropowatość powierzchni podłoży jest ważnym parametrem jakościowym dla kolejnych procesów badań mikrostruktury. Systemy AFM muszą być w stanie obrazować powierzchnię wysoko wypolerowanych materiałów o bardzo małej chropowatości w zakresie 150 µm, przy zachowaniu wysokiej jakości i niezawodności. 

Próbka kropek kwantowych
  • Tryb przerywanego kontaktu
  • Rozmiar obrazu 1200 nm x 750 nm
  • Rozdzielczość 800 px x 800 px

Szczegóły

Samoorganizujące się kropki kwantowe (QD) z arsenku indu (InAs) w arsenku galu (GaAs) wyrosłe na (100) zorientowanej powierzchni podłoża z arsenku galu. Obraz topograficzny o wysokiej rozdzielczości do oceny wymiarów i rozkładu bocznego QD. Rozmiar obrazu 1200 nm x 750 nm, rozdzielczość 800 px x 800 px.

Tryb

Tryb przerywanego kontaktu

Temat badania

Kropki kwantowe (QD) są obszarem intensywnych badań naukowych ze względu na ich potencjalne przyszłe zastosowanie w elektronice i cyfryzacji. Wymiary poszczególnych QD i rozkład boczny stanowią ważną informację dla procesu produkcyjnego. Tarasy widoczne na obrazie to stopnie atomowe materiału podłoża GaAs, z  wysokością pojedynczego stopnia wynoszącą około 280 µm.

Dane techniczne

Tosca 400 Tosca 200
Skaner
Zakres skanowania X-Y 100 µm x 100 µm 50 µm x 50 µm*
Zakres skanowania Z 15 µm 10 µm**
Szum czujnika Z 50 pm***
Maks. prędkość skanowania 10 linii/sek. 5 linii/s
Próbka
Maksymalna średnica próbki 100 mm (200 mm****) 50 mm
Maksymalna wysokość próbki 25 mm (2 mm****)
Maksymalna masa próbki <600 g
Powtarzalność pozycji
(jednokierunkowa)
<1 µm
Mikroskop wideo
Kamera Kolorowa, 5 megapikseli, czujnik CMOS
Pole widzenia 1,73 mm x 1,73 mm
Rozdzielczość przestrzenna 5 µm
Ustawienie ostrości Zmotoryzowane ustawienie ostrości
Kamera widoku ogólnego
Kamera Kolorowa, 5 megapikseli, czujnik CMOS
Pole widzenia 40 mm x 40 mm
Rozdzielczość przestrzenna 50 µm
Kamera boczna
Kamera boczna Czarno-biała, obszar widoku 30 mm
Tryby
Tryby standardowe Tryb kontaktowy, tryb przerywanego kontaktu (wraz z obrazem przesunięcia fazowego), mikroskopia sił bocznych, krzywa siły i przemieszczenia
Tryby opcjonalne Obrazowanie na podstawie amplitudy rezonansowej kontaktu, mikroskopia sił magnetycznych, mikroskopia sił Kelvina, mikroskopia sił elektrostatycznych, przewodząca mikroskopia sił atomowych, przewodząca mikroskopia sił atomowych z kontrolą prądu
Wymiary i ciężar
Wymiary (dł. × szer. × wys.), jedn. główna AFM 490 mm x 410 mm x 505 mm
Wymiary (dł. × szer. × wys.), kontroler 340 mm x 305 mm x 280 mm
Ciężar jednostki głównej AFM 51,1 kg
Ciężar kontrolera 7,8 kg

* opcjonalna rozbudowa do 90 µm x 90 µm

** opcjonalna rozbudowa do 12 µm lub 15 µm

*** Średnia wartość dla produkowanych uchwytów; maksymalna wartość 80 pm

**** podczas korzystania z podłoża AFM (opcjonalnie)

Tosca jest zastrzeżonym znakiem towarowym (013412143) firmy Anton Paar.

Certyfikowany serwis Anton Paar

Jakość usług i wsparcia Anton Paar:
  • ponad 350 certyfikowanych przez producentów ekspertów technicznych na całym świecie
  • Wykwalifikowana pomoc w Twoim lokalnym języku
  • Ochrona Twojej inwestycji przez cały okres jej użytkowania
  • Trzyletnia gwarancja
Dowiedz się więcej

Dokumenty

Mikroskop Tosca w publikacjach

Correlations between Rheological Behavior and Intrinsic Properties of Nanofibrillated Cellulose from Wood and Soybean Hulls with Varying Lignin Content

Iglesias M C, Hamade F, Aksoy B, Jiang Z, Davis V A, and Peresin M S. Correlations between Rheological Behavior and Intrinsic Properties of Nanofibrillated Cellulose from Wood and Soybean Hulls with Varying Lignin Content. BioResources. 2021; 16(3), 4831-4845. 10.15376/biores.16.3.4831-4845

Assessment of the Physicochemical and Conformational Changes of Ultrasound-Driven Proteins Extracted from Soybean Okara Byproduct

Aiello G, Pugliese R, Rueller L, Bollati C, Bartolomei M, Li Y. Assessment of the Physicochemical and Conformational Changes of Ultrasound-Driven Proteins Extracted from Soybean Okara Byproduct. Foods. 2021; 10(3):562. doi.org/10.3390/foods10030562

Investigation of the Wear Behavior of PVD Coated Carbide Tools during Ti6Al4VMachiningwith Intensive Built Up Edge Formation

Chowdhury MSI, Bose B, Rawal S, Fox-Rabinovich GS, Veldhuis SC. Investigation of the Wear Behavior of PVD Coated Carbide Tools during Ti6Al4V Machining with Intensive Built Up Edge Formation. Coatings. 2021; 11(3):266. doi.org/10.3390/coatings11030266

Comparative Study on Effects of Ni Ion Implantation on Amorphous Carbon (a-C) Coating and Tetrahedral Amorphous Carbon (ta-C) Coating    

Shen Y, Zhang Z, Liao B, Wu X, Zhang X. Comparative Study on Effects of Ni Ion Implantation on Amorphous Carbon (a-C) Coating and Tetrahedral Amorphous Carbon (ta-C) Coating. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020; 467, 1-8. doi.org/10.1016/j.nimb.2020.01.016

Structure and Properties of TiBx Coatings Deposited via Magnetron Sputtering with Ion Source Etching 

Liang Y, Liu F, Wang Q, Dai W. Structure and Properties of TiBx Coatings Deposited via Magnetron Sputtering with Ion Source Etching. Ceramics International. 2021; 47(11), 16009-16017. doi.org/10.1016/j.ceramint.2021.02.175

Synergistic Antimicrobial Activity of a Nanopillar Surface on a Chitosan Hydrogel

Heedy S, Marshall ME, Pineda JJ, Pearlman E, and Yee AF. Synergistic Antimicrobial Activity of a Nanopillar Surface on a Chitosan Hydrogel. ACS Applied Bio Materials. 2020; 3(11), 8040-8048. doi.org/10.1021/acsabm.0c01110

Tribological Behavior of Diamond-like Carbon Coatings with Patterned Structure Deposited by the Filtered Cathodic Vacuum Arc

Shen Y, Zhou H, Wang H, Liao B, Wu X, Zhang X. Tribological Behavior of Diamond-like Carbon Coatings with Patterned Structure Deposited by the Filtered Cathodic Vacuum Arc. Thin Solid Films. 2019; 685, 123-130. doi.org/10.1016/j.tsf.2019.06.020

Surface Analysis of the 2-Mercaptobenzothiazole Corrosion Inhibitor on 6082 Aluminum Alloy using ToF-SIMS and XPS         

Finšgar M. Surface Analysis of the 2-Mercaptobenzothiazole Corrosion Inhibitor on 6082 Aluminum Alloy using ToF-SIMS and XPS. Analytical Methods. 2020; 12(4), 456-465. doi.org/10.1039/C9AY02293G

3D Printing of Very Soft Elastomer and Sacrificial Carbohydrate Glass Elastomer Structures for Robotic Applications   

Hamidi A, Tadesse Y. 3D Printing of Very Soft Elastomer and Sacrificial Carbohydrate Glass Elastomer Structures for Robotic Applications. Materials & Design. 2020; 187, 108324. doi.org/10.1016/j.matdes.2019.108324

Carbon Dioxide Diffusion at Different Relative Humidity through Coating of Cellulose Nanocrystals for Food Packaging Applications         

Fotie G, Amoroso L, Muratore G, Piergiovanni L. Carbon Dioxide Diffusion at Different Relative Humidity through Coating of Cellulose Nanocrystals for Food Packaging Applications. Food Packaging and Shelf Life. 2018; 18, 62-70. doi.org/10.1016/j.fpsl.2018.08.007

Cellulose Carbamate Derived Cellulose Thin Films Preparation, Characterization and Blending with Cellulose Xanthate         

Weißl M, Hobisch MA, Johansson LS, Hettrich K, Kontturi E, Volkert B. Cellulose Carbamate Derived Cellulose Thin Films Preparation, Characterization and Blending with Cellulose Xanthate. Cellulose. 2019; 26, 7399–7410. doi.org/10.1007/s10570-019-02600-z

Bioactive Apatite Formation on PEO-treated Ti-6Al-4V Alloy after 3rd Anodic Titanium Oxidation

Sang-Gyu L, Han-Cheol C. Bioactive Apatite Formation on PEO-treated Ti-6Al-4V Alloy after 3rd Anodic Titanium Oxidation. Applied Surface Science. 2019; 484:365-373. doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.04.096

Synthesis of a Tetrazine–Quaterthiophene Copolymer and its Optical Structural and Photovoltaic Properties 

Knall AC, Hoefler SF, Hollauf M, Thaler F, Noesberger S, Hanzu I. Synthesis of a Tetrazine–Quaterthiophene Copolymer and its Optical Structural and Photovoltaic Properties. Journal of Materials Science. 2019; 54, 10065–10076. doi.org/10.1007/s10853-019-03551-3

The Influence of Gravity on Contact Angle and Circumference of Sessile and Pendant Drops has a Crucial Historic Aspect 

Gulec S, Yadav S, Das R, Bhave V, Tadmor R. The Influence of Gravity on Contact Angle and Circumference of Sessile and Pendant Drops has a Crucial Historic Aspect. Langmuir. 2019; 35(16), 5435–5441. doi.org/10.1021/acs.langmuir.8b03861

Akcesoria

Akcesoria

Akcesoria

Akcesoria

Nie wszystkie przedmioty można kupić online w określonych krajach.

Aby dowiedzieć się, czy możesz dokonać zakupu online w swojej lokalizacji, sprawdź dostępność online poniżej.

Cena dostępna tylko online | nie zaw.w tym 0VAT

Akcesoria do Tosca 400 AFM:
stolik do płytek krzemowych

Zgodne z::
Tosca 200 | 400
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy
Szczegóły produktu
  • Do płytek 4-, 6- i 8-calowych
  • W pełni dostępny stolik do płytek
  • Zaprojektowany do przenoszenia płytek za pomocą pęsety próżniowej
  • Wielokrotny zautomatyzowany pomiar

Więcej informacji

Akcesoria do Tosca AFM:
izolacja drgań

Zgodne z::
Tosca 200 | 400
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy
Szczegóły produktu
  • Wydajność do -40 dB, przy 10 Hz – izolacja 99,0% wibracji
  • Efekt izolacyjny zaczyna się od 0,6 Hz
  • W pełni automatyczna regulacja obciążenia
  • Brak konieczności podłączania do źródła sprężonego powietrza

Więcej informacji

Akcesoria do Tosca AFM:
obudowa akustyczna

Zgodne z::
Tosca 200 | 400
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy
Szczegóły produktu
  • Chroni Tosca AFM przed zakłóceniami spowodowanymi przez fale akustyczne
  • Tłumienie akustyczne do 40 dB

Więcej informacji

Narzędzie do wymiany dźwigni dla Tosca AFM:
Probemaster

Zgodne z::
Tosca 200 | 400
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy
Szczegóły produktu
  • Łatwa i bezpieczna wymiana dźwigni w mniej niż 10 sekund
  • Automatyczne, w 100% poprawne ustawienie
  • Brak pęknięć dźwigni spowodowanych błędami w obsłudze

Więcej informacji

Oprogramowanie AFM:
Tosca Control oraz Tosca Analysis

Zgodne z::
Tosca 200 | 400
Więcej informacji
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy