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從粉末到成品：金屬粉末的特性與品質控制

本研討會將深入探討積層製造過程中金屬粉末的特性與品質控制，涵蓋從結構解析、雜質檢測到顆粒形貌與密度對粉末品質的影響，並延伸至 MOF 材料於磁捕捉中的應用。透過本次活動，與會者將全面理解金屬粉末在不同檢測技術下的分析方法，以及其在積層製造中的實際應用。並且除了理論講解外，亦安排實機操作，協助與會者將所學知識應用於實務研究與製程開發。

地點: ITRI工業技術研究院 光復院區17館 1F
時間: 10/14 9:30-16:30 (報名截止後，若想報名，請直接連絡: 蔣佳穎  Sam Chiang)
講師:康敦彥(台灣大學 化工系教授)、Sam Chiang 蔣佳穎(安東帕應用工程師)
研討會主題:
  1. XRD在金屬粉末汙染檢測與相鑑定的角色
  2. 粒徑、形狀與固體密度對金屬粉末品質的影響
  3. MOF材料於探捕捉的應用

*本活動有提供餐食，若有特殊飲食需求，如:吃素, 不吃海鮮, 不吃牛肉…等，請聯繫: 
蔣佳穎  Sam Chiang (聯絡資訊請往下滑)

Mr. Sam Chiang (Language: Twi)

Venue: Hsinchu, 台灣, ITRI 財團法人工業技術研究院光復院區 Hsinchu
End of registration: 13/10/2025

Contact person and registration:
Sam Chiang
Tel.: 0966729958
sam.chiang[at]anton-paar.com

Sam Chiang
  • 國立臺灣師範大學 化學所 碩士
  • 於 2019/9 加入安東帕
  • 負責粒徑分析、介達電位、SAXS及氣體吸附分析儀等儀器的解決方案