Vom Messprinzip zur Anwendung – Rasterkraftmikroskopie (AFM) in der Werkstofftechnik

説明:

Bei der Entwicklung von neuen Werkstoffen sind hochaufgelöste, bildgebende Verfahren, wie SEM oder TEM schon seit langem im Einsatz. Die Rasterkraftmikroskopie, oder auch Atomic Force Microscopy (AFM) konnte diese Verfahren in der Vergangenheit oft durch hochaufgelöste,  dreidimensionale Bilder von Strukturen, bis hinunter auf die Nanometer-Skala, ergänzen. Aufgrund der Interaktion einer Prüfspitze (Cantilever) mit der Probenoberfläche bietet dieses Verfahren die Messung weiterer Kenngrößen, die in der Werkstofftechnik von wichtiger Bedeutung sind. Es können mechanische Eigenschaften, wie z.B. der E-Modul, magnetische Probeneigenschaften oder auch elektrische Eigenschaften der Probenoberflächen bestimmt werden.

Sie beschäftigen sich mit neuen Werkstoffen, Beschichtungen und sind an der Charakterisierung von Oberflächen von der Mikrometer- bis Nanometer-Skala interessiert?
Lernen Sie in diesem Webinar 

  • die Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie
  • die Einsatzmöglichkeiten in der Werkstofftechnik
  • die Ermittlung von Werkstoffeigenschaften an praktischen Beispielen

日付: 2020-09-17, 10:00 - 11:00 (CEST UTC+02:00)
言語: Deutsch
講師: Dirk Meister, Dr. Daniel Röhrens, ACCESS e. V.

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