La microscopia a forza atomica come supporto per la caratterizzazione e lo sviluppo dei materiali polimerici

Leírás:

 

Indagine topografica e proprietà superficiali con l'AFM

Dátum: 2020-07-10, 14:30 - 15:00 (UTC UTC+00:00)
Language („Nyelv”): Italiano
Oktató: Simone Marchesi

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