Mikroskopija atomskih sila: Serija Tosca
Smanjite svoje vrijeme do rezultata uz Tosca AFM
Serija Tosca kombinira vrhunsku tehnologiju s vremenski učinkovitim radom, zbog čega je ovaj AFM savršen alat za analizu nanotehnologije za znanstvenike i slične industrijske korisnike.
Odaberite između dva različita modela: Tosca 400, za velike uzorke, vrhunski AFM ili Tosca 200, AFM za uzorke srednjih veličina i ograničene budžete. Oba pružaju istu razinu performansi, fleksibilnosti i kvalitete.
Svaki Tosca uređaj dolazi s: tri godine garancije, tri vaučera za obuku korisnika i vaučerima za detaljna izvješća o mjerenju do deset uzoraka po vašem izboru.
Stupite u kontakt Tražilica dokumenata
Glavne značajke
Uživajte u odličnim sposobnostima orijentacije: automatsko lasersko poravnavanje
Lasersko poravnavanje vrlo je važan, ali i složen korak pri provođenju mjerenja mikroskopom atomskih sila. Ono može biti vremenski zahtjevno za neiskusne korisnike, ali i za one iskusnije. Stoga Tosca 400 donosi funkciju potpuno automatskog laserskog poravnavanja: nakon postavljanja konzole na tijelo aktivatora i tijela aktivatora na glavu mikroskopa atomskih sila, instrument nakon samo dva klika u kontrolnom softveru automatski provodi lasersko poravnavanje.
Oslonite se na svoja mjerenja: Minimalno gibanje izvan ravnine
S arhitekturom skenera XY i Z bez spojke, XY skener postavljen je unutar uzorka, dok je Z skener postavljen na glavi instrumenta. Dizajn ovog instrumenta uvjetuje vrlo nizak prijelaz između skenera i vrlo mali pomak izvan ravnine, što je poznata poteškoća konvencionalnih AFM sustava sa cijevnim skenerom, što rezultira tipičnom zakrivljenošću pozadine ili „lukom“. Serija Tosca ima pomak izvan ravnine 20 puta manji od dostupnih AFM-ova sa cijevnim skenerom.
Potpun pregled: velika površina snimanja u kombinaciji s najvišim stupnjem točnosti
S rasponom X-Y skeniranja do 100 µm i Z rasponom do 15 µm imat ćete fleksibilnost za snimanje velikog raspona uzoraka s velikim topografskim promjenama. Navigacija pomicanja klikom softvera Tosca Control pomaže vam da brzo i točno odaberete područje interesa.
Korak unaprijed: Najjednostavniji postupak izlaganja na tržištu mikroskopa atomskih sila
Postupkom izlaganja površina uzorka se dovodi u kontakt s konzolom. To je jedan od najkritičnijih postupaka pri rukovanju mikroskopom atomskih sila. Serija Tosca otklanja taj problem s bočnom kamerom širokog pogleda za praćenje položaja konzole i primiče je što bliže površini. Nakon toga možete pokrenuti automatski postupak izlaganja: za samo nekoliko sekundi konzola dolazi u kontakt s površinom uzorka i spremna je za snimanje.
Brza i sigurna zamjena konzole
Probemaster je jedinstveni alat razvijen posebice za rukovanje konzolom koji štedi vrijeme i jamči brzo, sigurno i pravilno pozicioniranje konzole. Time se osigurava da možete brzo i sigurno montirati kućište aktuatora s konzolom za sljedeće mjerenje.
Iskusite superiornu točnost bez kompromisa
Arhitektura skenera bez spojke osigurava najveću točnost do razine manje od nanometra bez lučnih artefakta. X-Y skeniranje sa zatvorenom petljom eliminira nelinearnosti i puzanje, što rezultira najvećom preciznošću u analizi nanoljestvice.
Tehničke specifikacije
| Tosca 400 Veliki uzorci | Tosca 200 Uzorci srednje veličine | |
| Skener | ||
| Raspon X-Y snimanja | 100 µm x 100 µm | 50 µm x 50 µm* |
| Raspon Z snimanja | 15 µm | 10 µm** |
| Maks. brzina skeniranja | 10 linija/s | 5 linija/s |
| Uzorak | ||
| Maks. promjer uzorka | 100 mm | 50 mm |
| Maks. visina uzorka | 25 mm | |
| Maks. težina uzorka | <600g | |
| Ponovljivost položaja (jednosmjerno) | <1 µm | |
| Videomikroskop | ||
| Kamera | u boji, 5 megapiksela, CMOS senzor | |
| Vidno polje | 1,73 mm x 1,73 mm | |
| Prostorna razlučivost | 5 µm | |
| Fokus | motorizirani fokus | |
| Kamera za pregled | ||
| Kamera | u boji, 5 megapiksela, CMOS senzor | |
| Vidno polje | 40 mm x 40 mm | |
| Prostorna razlučivost | 50 µm | |
| Kamera za bočni prikaz | ||
| Kamera za bočni prikaz | crno-bijela, raspon prikaza 30 mm | |
| Načini rada | ||
| Standardni načini rada | Kontaktni način rada, način rada s grananjem (uključujući faznu sliku), mikroskopija bočnih sila, krivulja udaljenosti sile | |
| Opcionalni načini rada | Snimanje amplitude kontaktne rezonance, mikroskopija magnetskih sila, mikroskopija sila Kelvinovom sondom, mikroskopija elektrostatičkih sila, provodljiva mikroskopija atomskih sila, trenutna kontrolna provodljiva mikroskopija atomskih sila | |
| Dimenzije i težina | ||
| Veličina (D x Š x V), AFM jedinica | 490 mm x 410 mm x 505 mm | |
| Veličina (D x Š x V), kontroler | 340 mm x 305 mm x 280 mm | |
| Težina, AFM jedinica | 51,1 kg | |
| Težina, kontroler | 7,8 kg | |
* opcionalna nadogradnja na 90 µm x 90 µm
** opcionalna nadogradnja na 12 µm ili 15 µm
Tosca je registrirani zaštitni znak (013412143) tvrtke Anton Paar.
Certificirana usluga servisa Anton Paar
- Više od 350 tehničkih stručnjaka certificiranih od proizvođača diljem svijeta
- Kvalificirana podrška na Vašem jeziku
- Zaštita Vašeg ulaganja tijekom njegovog životnog ciklusa
