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Diffractomètre à rayons X automatisé et polyvalent pour poudres :
XRDynamic 500

  • Prêt à l'emploi : Meilleur rapport résolution/signal/bruit de sa catégorie
  • Concept TruBeam™ : Rayon du goniomètre plus grand, trajet du faisceau évacué
  • Automatisation complète : Modification de l'optique des rayons X et de la géométrie du faisceau
  • Efficacité : Augmentez l'utilisation des instruments jusqu'à 50 %
  • Auto-alignement : Instrument et échantillon pour une commodité maximale
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XRDynamic 500 assure une qualité de données XRD imbattable avec une efficacité maximale. Profitez des avantages d'une plateforme polyvalente couvrant une grande variété d'applications avec des solutions optimales pour la XRD des poudres, la XRD en milieu non ambiant, l'analyse PDF, SAXS, et plus encore.  Intuitif à utiliser, avec des routines d'optique et d'alignement entièrement automatisées, il permet à tous, des novices aux experts, de rapidement collecter des données XRD de qualité supérieure tout en minimisant les erreurs. XRDynamic 500: Driving XRD.

Avantages

Le concept TruBeam™ de XRDynamic 500 combine un grand rayon de goniomètre, un trajet de faisceau sous vide et un changement de géométrie d'optique/de faisceau de rayons X entièrement automatisé. Mesurez un éventail d'échantillons avec des configurations d'instruments variées, assistées par un logiciel intuitif avec des flux de travail optimisés. Obtenez la meilleure résolution de sa catégorie (FWHM <0,021° pour le premier pic standard LaB₆) avec une configuration Bragg-Brentano standard. Profitez d'un excellent rapport signal/bruit avec jusqu'à 50 % de réduction du bruit de fond de mesure et une diffusion parasite minimale dans l'air. Reconfigurez rapidement pour des expériences de XRD non ambiantes optimisées ou des mesures SAXS avec la qualité d'un instrument SAXS dédié.

Trajets de faisceau multiples
Trajets de faisceau multiples
  • Basculez entre jusqu'à 3 géométries de faisceau par simple clic
  • Exécuter différentes mesures de manière séquentielle sans intervention de l'utilisateur
  • Gagnez du temps : Augmentez l'utilisation des instruments jusqu'à 50 %

Défi

Dans de nombreux diffractomètres, chaque géométrie de mesure nécessite le remplacement de pièces par l'utilisateur. Vous pouvez uniquement effectuer deux types de mesures complètement différents de manière séquentielle après avoir ouvert l'instrument pour changer manuellement de configuration.

Solution

Basculez entre jusqu'à 3 géométries de faisceau en un seul clic (disponible pour tout type de tube à rayons X utilisé), grâce à une pile optique motorisée. Un axe unique d'inclinaison de la source permet d'aligner chaque géométrie de manière précise et automatique.

Avantage

La commutation automatique entre jusqu'à 3 géométries de faisceau permet d'effectuer séquentiellement des types de mesures complètement différents sur des échantillons différents (ou identiques), sans échange de pièces ni intervention de l'utilisateur. Profitez d'une augmentation de 50 % du temps de fonctionnement de l'instrument en exécutant des lots de mesures complexes pendant la nuit et le week-end sans aucune intervention de l'utilisateur.

Optique automatisée
Optique automatisée
  • Automatisation de toutes les optiques
  • Plus d'efficacité, moins d'erreurs
  • Des données de haute qualité pour chaque utilisateur

Défi

La sélection de l'optique correcte implique souvent de remplacer des composants et de mettre à jour la configuration de la mesure à la main dans le logiciel de mesure. Cela prend du temps, peut entraîner des erreurs et nécessite une supervision ou une formation approfondie pour les utilisateurs les moins expérimentés afin de collecter régulièrement des données XRD de haute qualité.

Solution

L'automatisation complète de tous les composants optiques dans le trajet du faisceau permet de modifier la configuration de l'instrument d'un simple clic. Aucun échange physique de pièces ni aucune intervention de l'utilisateur ne sont nécessaires.

Avantage

Gagnez du temps et réduisez les risques d'erreur de l'utilisateur en passant automatiquement à l'optique correcte et en reconnaissant toujours la configuration actuelle. La configuration des mesures est intuitive et simple, même pour les utilisateurs novices en matière de XRD.

Auto-alignement
Auto-alignement
  • Auto-alignement de l'instrument sans nécessité de visite d'entretien
  • Un alignement automatique parfait pour chaque configuration de mesure
  • Alignement automatique de chaque échantillon

Défi

L'alignement d'un diffractomètre, en particulier des optiques à rayons X, nécessite des connaissances spécialisées, voire une visite de service. L'alignement des échantillons peut également être difficile pour les utilisateurs inexpérimentés.

Solution

Des routines d'alignement des instruments entièrement automatisées permettent d'effectuer un auto-alignement des instruments à tout moment. Des routines automatisées d'alignement des échantillons peuvent être utilisées pour chaque échantillon.

Avantage

Annulez la visite de service et laissez l'instrument s'aligner tout seul. Assurez-vous que l'instrument (et l'échantillon) est toujours parfaitement aligné pour obtenir des données de la meilleure qualité possible, afin de bénéficier d'un temps de fonctionnement maximal et de réduire les coûts de propriété.

Utilisation intuitive
Utilisation intuitive
  • Workflow de mesure intuitifs et optimisés
  • Facile à utiliser pour les débutants et les experts
  • Moins de temps de formation pour les utilisateurs

Défi

Les systèmes de diffraction conventionnels apparaissent souvent comme des réseaux complexes de composants multiples, ce qui peut être déconcertant pour les utilisateurs novices. Les utilisateurs expérimentés peuvent être amenés à passer beaucoup de temps à établir des plans de mesure et des configurations d'instruments, ce qui les détourne de tâches plus importantes.

Solution

Le XRDynamic 500 et le logiciel de contrôle XRDdrive combinent de manière transparente une manipulation simple des instruments et des flux de travail intuitifs avec autant de détails que vous le souhaitez et aussi peu que vous en avez besoin, grâce à une automatisation intelligente.

Avantage

Profitez de flux de travail rationalisés qui maximisent les avantages de l'automatisation du XRDynamic 500. Les logiciels qui guident les utilisateurs dans leurs mesures permettent aux experts et aux novices de travailler comme ils l'entendent, tout en garantissant une qualité de données optimale.

TruBeam™
TruBeam™
  • Nouveau concept de faisceau permettant d'obtenir un faisceau parfait à chaque fois
  • Une qualité de données optimale
  • Efficacité maximale de la mesure

Défi

Comment s'assurer que vous travaillez toujours avec la configuration optimale du faisceau et de l'instrument sans sacrifier la qualité des données ou le temps de mesure ?

Solution

Le concept unique TruBeam™ réunit en un seul ensemble complet la source de rayons X Primux 3000, un grand rayon de goniomètre et des optiques sous vide, la commutation automatisée de la géométrie du faisceau et de la configuration des optiques, ainsi que l'alignement automatique de l'instrument et de l'échantillon.

Avantage

Chaque utilisateur obtient toujours des performances de mesure exceptionnelles pour chaque échantillon et bénéficie d'une résolution plus élevée, de plus d'options et d'une efficacité accrue.

Résolution exceptionnelle
Résolution exceptionnelle
  • Résolution de mesure améliorée de plus de 20 %
  • Une résolution supérieure prête à l'emploi - aucune optique coûteuse n'est requise
  • Grand rayon du goniomètre en standard

Défi

De nombreux diffractomètres offrent un rayon de mesure de 240 à 300 mm, ce qui peut limiter la résolution maximale réalisable sans l'utilisation d'optiques coûteuses. Vous devez faire des compromis, ce qui entraîne une perte d'intensité.

Solution

XRDynamic 500 offre un plus grand rayon de goniomètre de 360 mm ou 400 mm en standard, avec des optiques sous vide et une petite taille de pixel de détecteur.

Avantage

Par rapport aux diffractomètres conventionnels, XRDynamic 500 offre une résolution de mesure 20 % supérieure pour les mesures standard de Bragg-Brentano sans compromettre l'intensité mesurée, grâce à un trajet de faisceau sous vide.

Rapport signal/bruit maximal
  • Rapport signal/bruit imbattable
  • Réduire de 50 % le bruit de fond des mesures
  • Éliminer les effets de la diffusion de l'air

Défi

Pour obtenir un bon rapport signal/bruit et, par conséquent, une excellente qualité des données, les mesures doivent généralement être effectuées avec de longs temps de comptage.

Solution

Bénéficiez d'une optique sous vide pour stopper la diffusion parasite de l'air avec l'option d'un chemin de faisceau entièrement sous vide de la source au détecteur.

Avantage

Réduisez le bruit de fond des mesures de 50 % et bénéficiez d'un rapport signal/bruit imbattable pour des données de qualité optimale et des temps de mesure plus courts.

Vitesse de mesure
Vitesse de mesure
  • Haut débit d'échantillons et excellente qualité des données
  • Modes de mesure à haute intensité
  • Des flux de travail plus rapides grâce à une automatisation intelligente

Défi

Avec de nombreux instruments, la qualité des données est obtenue au détriment de la vitesse de mesure.

Solution

XRDynamic 500 offre une qualité de données et une intensité de faisceau primaire exceptionnelles à tout moment, quelle que soit la configuration de mesure, grâce à TruBeam™. En outre, l'automatisation de divers flux de travail tels que le changement de la configuration de l'instrument et les routines d'alignement est incluse.

Avantage

Réduisez les temps de mesure sans sacrifier la qualité des données pour augmenter le débit d'échantillons. L'automatisation intelligente permet de passer moins de temps devant l'instrument et de se concentrer sur ce qui compte.

Source de rayons X
Source de rayons X
  • Puissante source Primux 3000 idéale pour la XRD et la SAXS
  • Remplacement du tube radiogène en quelques minutes
  • Intensité maximale du faisceau primaire dans toutes les conditions

Défi

Il n'est pas facile de toujours travailler avec l'anode optimale du tube à rayons X, car le remplacement de ce dernier est souvent complexe. De plus, des sacrifices dans l'intensité du faisceau primaire doivent s'effectuer lorsque l'on travaille avec différentes optiques à rayons X en raison d'un alignement non optimal de la source sur l'optique.

Solution

La conception intelligente de la source de rayons X Primux 3000 permet de remplacer rapidement le tube à rayons X si nécessaire. L'alignement automatique de chaque combinaison de source et d'optique est possible.

Avantage

Prenez en charge des problèmes tels que la fluorescence de l'échantillon à la source. Changez le tube à rayons X, alignez-le automatiquement et mesurez à nouveau avec une nouvelle longueur d'onde en moins de 15 minutes. Profitez toujours de l'intensité maximale du faisceau primaire grâce à l'alignement précis de chaque géométrie de mesure.

Optique à rayons X
  • Optique multicouche à haute intensité
  • Géométries de faisceaux parallèles et de focalisation
  • Monochromateurs pour maximiser le rapport signal/bruit

Défi

Pour certains échantillons ou certaines applications, des optiques de mise en forme du faisceau (faisceau parallèle ou focalisé) sont nécessaires. En outre, des monochromateurs peuvent être nécessaires pour supprimer les pics Kβ et réduire le bruit de fond des mesures.

Solution

Une variété de monochromateurs multicouches, de faisceaux parallèles et d'optiques de focalisation peuvent être montés dans une pile optique motorisée et sélectionnés d'un simple clic. Un alignement précis et automatisé de chaque optique est réalisé avec un angle de décollage optimisé. Des optiques multicouches spéciales Ni/C offrent un filtrage Kβ intrinsèque pour les sources Cu et Co.

Avantage

Bénéficiez de la plus haute intensité possible avec toutes les optiques pour réduire le temps de mesure. Un rapport signal/bruit supérieur et une résolution exceptionnelle garantissent des données de la plus haute qualité.

Détecteurs
  • La dernière technologie de détection de pixels en mode 0D ou 1D
  • Petite taille de pixel pour une haute résolution
  • Filtrage de l'énergie

Défi

Pour obtenir des données de XRD de haute qualité, l'utilisation d'un détecteur capable de fournir une excellente résolution et un excellent rapport signal/bruit est nécessaire.

Solution

Les unités de détection Pixos, basées sur la technologie de pointe de comptage de photons d'Advacam, permettent de mesurer en mode 0D ou 1D. XRDynamic 500 offre un choix de capteurs Si ou CdTe pour couvrir toutes les longueurs d'onde, un filtrage actif de l'énergie et la plus petite taille de pixel du marché (55 µm x 55 µm).

Avantage

En combinaison avec le rayon du goniomètre élargi du XRDynamic 500, la petite taille des pixels des détecteurs améliore la résolution maximale de la mesure pour chaque longueur d'onde. Les unités de détection Pixos offrent également une excellente résolution d'énergie (avec un filtrage intelligent de l'énergie), une linéarité et une efficacité exceptionnelles.

Platines d'essai
  • Flexibilité dans toutes les applications
  • Changeurs d'échantillons pour le haut débit
  • Excellente stabilité positionnelle

Défi

Pour répondre aux différentes exigences des applications, il faut disposer deplatines d'échantillons  appropriées.

Solution

Des platines d'échantillons polyvalentes permettent de mesurer en réflexion et/ou en transmission des poudres ou des échantillons solides, avec des options de passeurs d'échantillons disponibles.

Avantage

Différents types d'échantillons peuvent être mesurés grâce à la grande variété de platines d'échantillons. La reconnaissance des composants permet à chaque étape de fonctionner en mode plug & play pour une maîtrise rapide de toutes les applications.

Supports d'échantillons
  • Grande variété de porte-échantillons
  • Des solutions pour tous les types d'échantillons
  • Supports optimisés pour les matériaux faiblement diffusants et sensibles

Défi

Un véritable diffractomètre polyvalent doit pouvoir traiter tous les types d'échantillons.

Solution

Une gamme de porte-échantillons  signifie qu'il existe un porte-échantillons pour chaque type - poudres, solides, films, fibres, gels, pâtes ou liquides.

Avantage

Bénéficiez de l'avantage de toujours travailler avec un porte-échantillon optimisé pour l'échantillon à disposition en réflexion ou en transmission. Qu'il s'agisse d'échantillons organiques ou inorganiques, ou même d'échantillons sensibles à l'air ou à l'humidité, XRDynamic 500 offre une solution.

Diffraction par rayons X non ambiante
  • La XRD hors ambiance en toute simplicité
  • Fonctionnalité de scène Plug & Play
  • Unité de contrôle de la température (CCU) intégrée pour toutes les étapes

Défi

La mise en place d'une expérience de XRD en milieu non ambiant peut être complexe et prendre du temps. En général, de nombreux câbles et tuyaux doivent être introduits dans le boîtier de l'instrument pour se connecter aux unités de commande externes.

Solution

Profitez de la fonctionnalité plug and play de l'étage non ambiant grâce à une seule unité de commande CCU intégrée qui fonctionne avec tous les étages non ambiants d'Anton Paar. Bénéficiez de connexions pratiques dans le boîtier de l'instrument pour toutes les exigences non ambiantes.

Avantage

XRDynamic 500 permet de réaliser des expériences en milieu non ambiant aussi facilement que n'importe quelle autre mesure, de sorte que vous pouvez instantanément reconfigurer une configuration en milieu non ambiant. Un CCU intégré réduit l'encombrement et évite d'avoir à utiliser plusieurs unités de commande pour différents accessoires non ambiants.

SAXS
SAXS
  • Des données SAXS avec la qualité d'un instrument autonome
  • Chemin du faisceau complètement évacué de la source au détecteur
  • qmin jusqu'à 0,05 nm-1

Défi

Les mesures de diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) sur un diffractomètre peuvent généralement uniquement fournir des données de qualité limitée. Pour réaliser des mesures SAXS de haute qualité, un instrument dédié est nécessaire.

Solution

La combinaison de XRDynamic 500 avec le module EVAC offre un trajet de faisceau entièrement évacué et des optiques SAXS dédiées pour obtenir un qmin de 0,05 nm-1. 

Avantage

Bénéficiez de véritables mesures SAXS sur un diffractomètre. Un seul instrument est nécessaire pour fournir des données XRD et SAXS de la plus haute qualité.

Spécifications techniques

Source de rayons X
Type de source Primux 3000
Générateur de rayons X Jusqu'à 3 kW
Tension / courant du tube 20 kV à 60 kV / 2 mA à 50 mA
Goniomètre
Configuration Géométrie verticale Thêta/Thêta
Rayon de mesure 360 ou 400 mm
Plage angulaire maximale utilisable -95° - 162,5° 2theta
Taille minimum de l'étape 0,0001°
Linéarité 2theta ≤0.01°
Vitesse angulaire maximale 15 °/sec
Résolution angulaire maximale 0.021° (FWHM du 1er pic de LaB₆)
Exemples d'étapes et de pièces jointes
Platines d'échantillonnage ambiant Platine d'échantillon fixe
Platine d'essorage d'échantillon (réflexion/transmission)
Platine XY (avec option passeur automatique d'échantillons)
Platine d'essorage capillaire
Module EVAC
Pièces jointes non ambiantes HTK 1200N
, HTK 16N/2000N
, TTK 600
XRK 900
, CHC plus
+, BTS 150/500
Détecteurs Détecteurs de pixels hybrides à l'état solide :
  • Détecteur Pixos 1000 (mode 0D)
  • Détecteur Pixos 2000 (mode 0D et 1D)
  • Détecteur Pixos 2000 CdTe (mode 0D et 1D) pour les rayons X à haute énergie
Logiciel
  • XRDdrive : logiciel de contrôle du système et d'acquisition de données
  • Analyse XRD : logiciel de traitement et d'analyse des données pour l'analyse qualitative et quantitative des phases, l'analyse des microstructures et l'affinement de Rietveld
Spécifications générales
Dimensions extérieures (largeur x profondeur x hauteur) 1350 mm x 1160 mm x 1850 mm
Poids (sans les accessoires en option) 750 kg
Alimentation électrique Triphasé : 3/N/PE AC 400/230 V, 50...60 Hz, 25 A
1-Phase : 208...240 VAC, 50...60 Hz, 36 A
Consommation électrique maximale
(sans contrôleurs supplémentaires pour les équipements en option)
5,5 kW
Alimentation en eau de refroidissement Débit : > 3.6 L/min,   Pression : 4.5 - 6 bar, Température : < 25 °C

Service certifié Anton Paar

La qualité du service et du support Anton Paar :
  • Plus de 350 experts techniques certifiés par les fabricants dans le monde
  • Assistance qualifiée dans votre langue locale
  • Protection de votre investissement tout au long de son cycle de vie
  • 3 ans de garantie
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Prix en ligne uniquement | à l'exclusion dey compris 0TVA

Chambre basse température :
TTK 600

Plus d'informations
Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Référence: 159900
Reactor Chamber: XRK 900

Chambre de réacteur :
XRK 900

Plus d'informations
Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Référence: 84851
La chambre humide et basse température CHC plus+ est une combinaison unique de la chambre humide et basse température multi-usages CHC et d'un générateur d'humidité avancé(RH) pour l'analyse des changements structurels dépendants de l'humidité et/ou de la température dans les matériaux à l'aide de la diffraction des rayons X

Chambre humide et basse température :
CHC plus⁺

Plus d'informations
Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Référence: 79710

Chambre sous vide pour SAXS et XRD haute résolution :
module EVAC

Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Détails du produit
  • Rapport signal/bruit imbattable grâce à l'évacuation complète du faisceau
  • Optique SAXS dédiée pour des mesures ayant la qualité d'un instrument SAXS autonome
  • Convient pour les études XRD à haute résolution en réflexion ou en transmission
  • Mesure sans aucune restriction de la gamme 2θ

Plus d'informations

Chambres éléments thermique à lame haute température :
HTK 16N | HTK 2000N

Plus d'informations
Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Chambre haute température HTK 1200N pour examens de réflexion et de transmission XRD combinées à des températures élevées jusqu'à 1 200 °C

Extension du capillaire :
HTK 1200N

Plus d'informations
Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Référence: 27406

Optique XRD avancée

Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Détails du produit
  • Optique multicouche rayon X à haute intensité
  • Optique à faisceau parallèle et focalisé adapté pour chaque longueur d'onde
  • Suppression maximale des Kβ avec les monochromateurs primaires

Plus d'informations

Plateaux et porte-échantillons pour XRDynamic 500

Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Détails du produit
  • Des platines d'échantillon polyvalentes pour toutes les applications
  • Options de passeur d'échantillons pour des mesures à haut débit
  • Une grande variété de porte-échantillons pour différents types d'échantillons

Plus d'informations

Benchtop Heating Stage BTS 500

Platines de chauffage de table :
BTS 150 | BTS 500

Plus d'informations
Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois

Source de rayons X à tube scellé :
Primux 3000

Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Détails du produit
  • Source de rayons X puissante pour une analyse avancée des rayons X
  • Disponible dans une grande variété de matériaux d'anode
  • Changement simple du tube radiogène ou de la focalisation du tube

Plus d'informations

Unités de détection XRD :
Pixos

Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Détails du produit
  • Met en œuvre la dernière technologie de détecteur de pixels du CERN avec une réduction avancée du bruit
  • Mesure en mode 0D ou 1D avec un choix de matériaux de capteur
  • La plus petite taille de pixel (55 µm x 55 µm) pour une résolution exceptionnelle
  • Filtre énergétique pour minimiser davantage le bruit de fond des mesures

Plus d'informations

Logiciel XRD :
XRDanalysis

Délai de livraison : %1$s - %2$s jours ouvrables %1$s – %2$s semaines %1$s – %2$s mois
Détails du produit
  • Un logiciel polyvalent pour l'analyse par diffraction des poudres
  • Fonction de recherche/appariement pour une identification rapide et précise des phases
  • Analyse Rietveld utilisant des phases appariées ou chargées manuellement
  • Flux d'analyse optimisés, y compris l'analyse par lots, pour accélérer et simplifier vos tâches d'analyse

Plus d'informations