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Microscope à force atomique : Tosca™ 400

Le pionnier de l'AFM en milieu industriel

Tosca™ 400 est le seul AFM à combiner une technologie de pointe et une exploitation simple et conviviale, faisant de l'AFM l'outil parfait pour les utilisateurs du secteur industriel ainsi que les scientifiques. L'automatisation fait partie intégrante de chaque niveau d'exploitation, augmentant ainsi l'efficacité et simplifiant la manipulation des mesures de votre AFM.

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Principales caractéristiques

Profitez de nos compétences et de notre support: Alignement laser automatique

Profitez de nos compétences et de notre support: Alignement laser automatique

Une étape très importante mais aussi très complexe lors de mesures AFM est l'alignement laser. Ce processus peut être assez laborieux, en particulier pour les utilisateurs novices. C'est pourquoi, Tosca™ 400 fournit une fonction d'alignement laser entièrement automatique : Une fois le cantilever monté sur le corps de l'actionneur et ce dernier installé sur la tête de l'AFM, l'instrument effectue automatiquement l'alignement après seulement deux clics dans le logiciel de contrôle.

Obtenez une vue complète : Une large zone de balayage multi-directionnelle combinée à une extrême précision

Obtenez une vue complète : Une large zone de balayage multi-directionnelle combinée à une extrême précision

La plage de balayage X-Y de 100 μm couvre une vaste gamme d'applications. La zone de balayage X-Y peut être ajustée en toute simplicité grâce à la fonction de navigation cliquer-déplacer du logiciel de contrôle Tosca™. Le positionnement et le balayage précis de votre échantillon sont garantis. 

Avec une plage Z de 15 μm, il est possible d'acquérir des topographies de surface dans une zone X-Y vaste et d'effectuer une analyse de rugosité sur une large échelle en Z .

Une avancée majeure : La procédure d'engagement la plus simple sur le marché de l'AFM

Une avancée majeure : La procédure d'engagement la plus simple sur le marché de l'AFM

La procédure d'engagement met la surface de l'échantillon en contact avec le cantilever. C'est l'une des procédures les plus complexes lors de l'exploitation de l'AFM. Tosca™ 400 contourne ce problème en implémentant une caméra d’observation latérale. Cette caméra vous permet de suivre la position exacte du cantilever par rapport à la surface et d'approcher le cantilever de celle-ci. Vous pouvez ensuite démarrer la procédure d’engagement automatique dans le logiciel et en quelques secondes le cantilever entre en contact avec la surface de l'échantillon et est prêt au balayage. 

Procédez selon votre méthode : Compatible avec tout type de cantilever

Procédez selon votre méthode : Compatible avec tout type de cantilever

Il existe de nombreux types de cantilevers et de marques en vente sur le marché – Tosca™ 400 vous permet d'utiliser le cantilever le plus approprié à votre application. Il vous suffit de placer le corps de l'actionneur et le cantilever dans l'outil de remplacement du cantilever, de le réintroduire et de placer le cantilever de votre choix dans la position optimale pour la mesure suivante. Plus besoin d'utiliser des pinces pour positionner le minuscule cantilever – vous disposez à présent du parfait outil pour un remplacement rapide et sécurisé du cantilever. 

Laisser Tosca™ 400 vous guider : Une navigation très perfectionnée de l'échantillon

Laisser Tosca™ 400 vous guider : Une navigation très perfectionnée de l'échantillon

Après avoir chargé et initialisé Tosca™ 400, vous pouvez démarrer une image complète de la table d'échantillon. En un simple clic de la souris sur la position souhaitée à l'intérieur de l'image, l'instrument parcourt l'échantillon jusqu'à la zone de choix pour la mesure suivante. La navigation est également disponible en visualisation micro. Le déclenchement de la navigation est entièrement automatique après avoir cliqué dans l'image du microscope vidéo intégré. De cette manière, vous pouvez naviguer en toute simplicité même vers des éléments de petite taille.

Spécifications techniques

Scanner
Plage de balayage X-Y 100 µm x 100 µm
Plage de balayage Z 15 µm
Taille des échantillons
Diamètre max. de l'échantillon 90 mm
Hauteur max. de l'échantillon 25 mm
Poids max. de l'échantillon 600 g
Platine motorisée
Platine X-Y Déplacement 100 mm
Platine Z Déplacement 85 mm
Répétabilité de position (unidirectionnel) <1 µm
Microscope optique
Caméra Couleur, 5 mégapixels, Capteur CMOS
Champ de vision 1,73 mm x 1,73 mm
Résolution spatiale 5 µm
Mise au point Mise au point motorisée
Caméra d'observation
Caméra Couleur, 5 mégapixels, Capteur CMOS
Champ de vision 40 mm x 40 mm
Résolution spatiale 50 µm
Caméra d’observation latérale
Caméra d’observation latérale Noir et blanc, plage de visibilité 25 mm
Modes standards
Imagerie Mode contact, mode impulsion (y compris image de phase), microscopie à force latérale
Unité AFM
Dimensions 490 mm x 410 mm x 505 mm
Poids de l'unité AFM 51,1 kg
Dimensions (D x L x H) du contrôleur 340 mm x 305 mm x 280 mm
Poids du contrôleur 7,8 kg

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