Microscope à force atomique : Série Tosca

Réduisez votre temps d’analyse grâce à l'AFM Tosca

La série Tosca associe de manière unique technologie de pointe et fonctionnement rapide, faisant de cet AFM un outil d'analyse nanotechnologique parfait tant pour les scientifiques que pour les utilisateurs industriels.

Il existe deux modèles au choix : Le Tosca 400, AFM haut de gamme ou le Tosca 200, un AFM destiné aux échantillons de taille moyenne et aux budgets limités. Les deux offrent le même niveau de performance, de souplesse et de qualité.

Chaque Tosca est livré avec: une garantie de trois ans, trois vouchers pour la formation des utilisateurs et des vouchers pour des rapports de mesure détaillés sur un maximum de dix échantillons de votre choix.

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Caractéristiques principales

Profitez de nos compétences et de notre support: Alignement laser automatique

Une étape très importante mais aussi très complexe lors de mesures AFM est l'alignement laser. Ce processus peut être assez laborieux, en particulier pour les utilisateurs novices. C'est pourquoi, le Tosca 400 fournit une fonction d'alignement laser entièrement automatisée : Une fois le cantilever monté sur le corps de l'actionneur et ce dernier installé sur la tête de l'AFM, l'instrument effectue automatiquement l'alignement après seulement deux clics dans le logiciel de contrôle.

Fiez-vous à vos mesures : Mouvement minimisé hors du plan

Avec l'architecture de scanner XY et Z découplée, le scanner XY est placé sous l'échantillon tandis que le scanner Z est placé dans la tête de l'instrument. La conception de cet instrument entraîne un très faible bruitageentre les scanners et un très faible mouvement hors plan, ce qui est un inconvénient connu des systèmes AFM classiques avec un scanner à tube, ce qui conduit à la courbure de fond ou d’« arc » typique. La série Tosca comporte un mouvement hors plan jusqu'à 20 fois inférieur à celui des AFM à scanner à tube disponibles.

Obtenez une vue complète : Une large zone de balayage multi-directionnelle combinée à une extrême précision

Avec une plage de balayage X-Y allant jusqu'à 100 µm et une plage Z allant jusqu'à 15 µm, vous avez la possibilité d'imager de grandes zones d'échantillons présentant de grands changements de topographie. La navigation cliquer-déplacer du logiciel de contrôle Tosca vous permet de sélectionner rapidement et avec précision la zone d'intérêt.

Une avancée majeure : La procédure d'engagement la plus simple sur le marché de l'AFM

La procédure d'engagement met la surface de l'échantillon en contact avec le cantilever. Il s’agit de l'une des procédures les plus complexes lors de l'exploitation de l'AFM. La série Tosca s’affranchie de ce problème grâce à une caméra à vision latérale qui permet de suivre la position exacte du cantilever et de la déplacer aussi près que possible de la surface. Vous pouvez ensuite démarrer la procédure d’engagement automatique, et en quelques secondes, le cantilever entre en contact avec la surface de l'échantillon et est prêt pour le balayage.

Échange rapide et sûr du cantilever

Probemaster est un outil unique spécialement développé pour la manipulation du cantilever, qui permet un gain de temps et garantit un placement rapide, sûr et correct du cantilever. Cela garantit que vous pouvez monter le corps de l'actionneur avec le cantilever rapidement et en toute sécurité pour la prochaine mesure.

Faites l'expérience d'une précision supérieure sans compromis

L'architecture du scanner découplé assure la plus grande précision jusqu'au niveau sub-nanomètre sans artefacts de courbure. Le balayage X-Y en boucle fermée élimine les non-linéarités et le fluage, offrant ainsi une précision maximale pour réaliser l'analyse à l'échelle nanométrique.

Spécifications techniques

	Tosca 400 pour de grands échantillons	Tosca 200 pour des échantillons de taille moyenne
Scanner
Plage de balayage X-Y	100 µm x 100 µm	50 µm x 50 µm*
Plage de balayage Z	15 µm	10 µm**
Vitesse de balayage max.	10 lignes/s	5 lignes/s
Taille des échantillons
Diamètre max. de l'échantillon	90 mm	45 mm
Hauteur max. de l'échantillon	25 mm
Poids max. de l'échantillon	<600 g
Platine motorisée
Platine X-Y	Déplacement 100 mm
Platine Z	Déplacement 85 mm
Répétabilité de position (unidirectionnel)	<1 µm
Microscope optique
Caméra	Couleur, 5 mégapixels, Capteur CMOS
Champ d’observation	1,73 mm x 1,73 mm
Résolution spatiale	5 µm
Mise au point	Mise au point motorisée
Caméra d'observation
Caméra	Couleur, 5 mégapixels, Capteur CMOS
Champ d’observation	40 mm x 40 mm
Résolution spatiale	50 µm
Caméra d’observation latérale
Caméra d’observation latérale	Noir et blanc, plage d’observation 30 mm
Modes
Modes standards	Mode contact, mode tapping (y compris image de phase), microscopie à force latérale, courbe force-distance
Modes facultatifs	Imagerie d'amplitude par résonance de contact
Dimensions et poids
Dimensions (L x l x H), unité AFM	490 mm x 410 mm x 505 mm
Dimensions (L x l x H) du contrôleur	340 mm x 305 mm x 280 mm
Poids de l'unité AFM	51,1 kg
Poids du contrôleur	7,8 kg