Microscope à force atomique : Série Tosca
Réduisez votre temps d’analyse grâce à l'AFM Tosca
La série Tosca associe de manière unique technologie de pointe et fonctionnement rapide, faisant de cet AFM un outil d'analyse nanotechnologique parfait tant pour les scientifiques que pour les utilisateurs industriels.
Il existe deux modèles au choix : Le Tosca 400, AFM haut de gamme ou le Tosca 200, un AFM destiné aux échantillons de taille moyenne et aux budgets limités. Les deux offrent le même niveau de performance, de souplesse et de qualité.
Chaque Tosca est livré avec: une garantie de trois ans, trois vouchers pour la formation des utilisateurs et des vouchers pour des rapports de mesure détaillés sur un maximum de dix échantillons de votre choix.
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Principales caractéristiques
Profitez de nos compétences et de notre support: Alignement laser automatique
Une étape très importante mais aussi très complexe lors de mesures AFM est l'alignement laser. Ce processus peut être assez laborieux, en particulier pour les utilisateurs novices. C'est pourquoi, le Tosca 400 fournit une fonction d'alignement laser entièrement automatisée : Une fois le cantilever monté sur le corps de l'actionneur et ce dernier installé sur la tête de l'AFM, l'instrument effectue automatiquement l'alignement après seulement deux clics dans le logiciel de contrôle.
Fiez-vous à vos mesures : Mouvement minimisé hors du plan
Avec l'architecture de scanner XY et Z découplée, le scanner XY est placé sous l'échantillon tandis que le scanner Z est placé dans la tête de l'instrument. La conception de cet instrument entraîne un très faible bruitageentre les scanners et un très faible mouvement hors plan, ce qui est un inconvénient connu des systèmes AFM classiques avec un scanner à tube, ce qui conduit à la courbure de fond ou d’« arc » typique. La série Tosca comporte un mouvement hors plan jusqu'à 20 fois inférieur à celui des AFM à scanner à tube disponibles.
Obtenez une vue complète : Une large zone de balayage multi-directionnelle combinée à une extrême précision
Avec une plage de balayage X-Y allant jusqu'à 100 µm et une plage Z allant jusqu'à 15 µm, vous avez la possibilité d'imager de grandes zones d'échantillons présentant de grands changements de topographie. La navigation cliquer-déplacer du logiciel de contrôle Tosca vous permet de sélectionner rapidement et avec précision la zone d'intérêt.
Une avancée majeure : La procédure d'engagement la plus simple sur le marché de l'AFM
La procédure d'engagement met la surface de l'échantillon en contact avec le cantilever. Il s’agit de l'une des procédures les plus complexes lors de l'exploitation de l'AFM. La série Tosca s’affranchie de ce problème grâce à une caméra à vision latérale qui permet de suivre la position exacte du cantilever et de la déplacer aussi près que possible de la surface. Vous pouvez ensuite démarrer la procédure d’engagement automatique, et en quelques secondes, le cantilever entre en contact avec la surface de l'échantillon et est prêt pour le balayage.
Échange rapide et sûr du cantilever
Probemaster est un outil unique spécialement développé pour la manipulation du cantilever, qui permet un gain de temps et garantit un placement rapide, sûr et correct du cantilever. Cela garantit que vous pouvez monter le corps de l'actionneur avec le cantilever rapidement et en toute sécurité pour la prochaine mesure.
Faites l'expérience d'une précision supérieure sans compromis
L'architecture du scanner découplé assure la plus grande précision jusqu'au niveau sub-nanomètre sans artefacts de courbure. Le balayage X-Y en boucle fermée élimine les non-linéarités et le fluage, offrant ainsi une précision maximale pour réaliser l'analyse à l'échelle nanométrique.
Spécifications techniques
| Tosca 400 pour de grands échantillons | Tosca 200 pour des échantillons de taille moyenne | |||
| Scanner | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Plage de balayage X-Y | 100 µm x 100 µm | 50 µm x 50 µm* | |||
| Plage de balayage Z | 15 µm | 10 µm** | |||
| Vitesse de balayage max. | 10 lignes/s | 5 lignes/s | |||
| Taille des échantillons | |||||
| Diamètre max. de l'échantillon | 90 mm | 45 mm | |||
| Hauteur max. de l'échantillon | 25 mm | ||||
| Poids max. de l'échantillon | <600 g | ||||
| Platine motorisée | |||||
| Platine X-Y | Déplacement 100 mm | ||||
| Platine Z | Déplacement 85 mm | ||||
| Répétabilité de position (unidirectionnel) | <1 µm | ||||
| Microscope optique | |||||
| Caméra | Couleur, 5 mégapixels, Capteur CMOS | ||||
| Champ d’observation | 1,73 mm x 1,73 mm | ||||
| Résolution spatiale | 5 µm | ||||
| Mise au point | Mise au point motorisée | ||||
| Caméra d'observation | |||||
| Caméra | Couleur, 5 mégapixels, Capteur CMOS | ||||
| Champ d’observation | 40 mm x 40 mm | ||||
| Résolution spatiale | 50 µm | ||||
| Caméra d’observation latérale | |||||
| Caméra d’observation latérale | Noir et blanc, plage d’observation 30 mm | ||||
| Modes | |||||
| Modes standards | Mode contact, mode tapping (y compris image de phase), microscopie à force latérale, courbe force-distance | ||||
| Modes facultatifs | Imagerie d'amplitude par résonance de contact | ||||
| Dimensions et poids | |||||
| Dimensions (L x l x H), unité AFM | 490 mm x 410 mm x 505 mm | ||||
| Dimensions (L x l x H) du contrôleur | 340 mm x 305 mm x 280 mm | ||||
| Poids de l'unité AFM | 51,1 kg | ||||
| Poids du contrôleur | 7,8 kg | ||||
* mise à jour optionnelle à 90 µm x 90 µm
** mise à jour optionnelle à 12 µm ou 15 µm
Tosca est une marque déposée (013412143) de Anton Paar.
Rapports d'application
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Characterization of Berkovich Diamond Nanoindenter Tips using Atomic Force Microscope Rapports d'application en
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Characterization of Nanoindentation on Copper using Atomic Force Microscopy Rapports d'application en
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Characterization of Wrinkle Formation in a Polymeric Drug Coating by Atomic Force Microscope Rapports d'application en
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Surface Characterization of Different Thin Layers used for Chip Fabrication Rapports d'application en
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Surface Characterization of Polymer Blends using Contact Resonance Amplitude Imaging Rapports d'application en
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Surface Morphology of Pharmaceutical Solid Dosage Forms by Utilizing Atomic Force Microscopy Rapports d'application en
