Caractérisation des particules
New horizons in particle analysis
Plus vous connaissez vos particules, mieux vous pouvez prédire le comportement de vos matières. Les paramètres que vous souhaitez mesurer pour ces recherches incluent la taille des particules, la taille des pores, la forme des particules, la structure interne, le potentiel zêta, la surface spécifique, la zone réactive, la densité, le flux de poudre et bien plus. Anton Paar vous propose l’instrumentation pour tous et plus encore : c'est le plus vaste portefeuille de caractérisation de particules disponible auprès d'un seul fournisseur mondial.
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Technologies, paramètres, instruments : Trouvez ce qui vous convient le mieux !
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Lorsque vous cliquez sur un instrument, ses caractéristiques complètes et spécifications techniques s’affichent.
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Mesure |
Technologie |
Type de dispersion |
Plage de mesure |
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|---|---|---|---|---|
| Absorption de vapeur | Sorption de la vapeur d’eau gravimétrique | Dry | ||
| Surface, taille des pores | Sorption de gaz |
Surface, taille des pores
2 nm - 500 nm (avec N ou Ar) 0,35 nm - 2 nm (avec CO₂ sur C) Surface surfacique minimale 0,1 m² / g |
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| Surface, taille des pores | Sorption de gaz (physisorption, chimisorption) | Dry |
Plage de taille des pores
0.35nm - 500 nm Surface surfacique minimale de 0,0005 m² / g avec du krypton, de 0,01 m² / g avec N² |
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| Densité | Densité en vrac | Dry |
Plage de volumes
1 cc |
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| Zone réactive | Sorption de gaz (chimisorption) | Dry | ||
| Zone réactive | Sorption de gaz (chimisorption) | Dry | ||
| Préparation des échantillons | Dégazage sous vide et débit | Dry | ||
| Capacité de stockage de gaz | Haute pression, sorption de gaz | Dry | ||
| Taille des particules | Diffusion de lumière dynamique | Liquid |
Plage de tailles de particules
0.3 nm - 10 μm |
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| Taille des particules, potentiel zêta | Diffusion de lumière dynamique, diffusion électrophorétique de la lumière (ELS), diffusion de la lumière statique (SLS) | Liquid |
Plage de tailles de particules
0.3 nm - 10 μm |
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| Préparation des échantillons | Vacuum, Flow Degassing | Dry |
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| Débit de poudre | Méthodes de mesure des débits de poudre multiples Rhéologie | Dry / Liquid |
Plage de tailles de particules
5 nm - 5 mm |
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| Densité | Pycnométrie à gaz |
Plage de volumes
0,025 cc |
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| Préparation des échantillons | Échantillonnage représentatif | Dry |
Plage de volumes
20 cc |
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| Surface, taille des pores | Sorption de gaz | Dry |
Plage de taille des pores
0,35 nm - 500 nm / 2 nm - 500 nm (avec N ou Ar) 0,35 nm - 2 nm (avec CO₂ sur C) Surface surfacique minimale 0,01 m² / g |
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| Porosité de la cellule | Pycnométrie à gaz | Dry |
Plage de volumes
1 cc |
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| Densité | Pycnométrie à gaz | Dry |
Plage de volumes
1 cc |
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| Taille des pores | Porosimétrie | Dry |
Plage de volumes
0,05 cc Plage de taille des pores 1100 - 0,0064 μm |
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| Taille des particules | Diffraction laser | Dry / Liquid |
Plage de tailles de particules
0,1 μm (sec) 0,04 μm (humide) à 500 μm |
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| Taille des particules | Diffraction laser | Dry / Liquid |
Plage de tailles de particules
0,1 μm (sec) 0,04 μm (humide) à 2500 μm |
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| Taille des particules | Diffraction laser | Dry / Liquid |
Plage de tailles de particules
0,3 μm (sec) 0,2 μm (humide) à 500 μm |
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| Surface, taille des pores | Sorption de gaz | Dry |
Plage de taille des pores
0,35 nm - 500 nm 0,35 nm - 2 nm (avec CO₂ sur C) Surface surfacique minimale 0,01 m² / g; 0,0005 m² / g |
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| Taille des particules, forme des particules et structure interne | SAXS, WAXS, GISAXS | Dry / Liquid |
Plage de tailles de particules / Plage de tailles de pores
& lt; 1 nm - 105 nm (plage de q (Cu Kalpha): 0,03 nm⁻¹ à 41 nm⁻¹) |
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| Taille des particules, forme des particules et structure interne | SAXS, WAXS, GISAXS | Dry / Liquid |
Plage de tailles de particules / Plage de tailles de pores
& lt; 1 nm - 160 nm (gamme q (Cu Kalpha): 0,02 nm⁻¹ à 41 nm⁻¹) |
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| Porosité de la cellule | Pycnométrie à gaz | Dry |
Plage de volumes
1 cc |
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| Masse volumique | Pycnométrie à gaz | Sec |
Plage de volumes
1 cc |
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| Absorption de vapeur | Absorption de vapeur | Sec | ||
| Préparation des échantillons | Dégazage sous vide | Dry |
Des experts dès le début
Aussi large que soit le portefeuille de caractérisation des particules d’Anton Paar, de nombreux instruments partagent un point : Ils ont été les premiers en la matière, et restent toujours les instruments de prédilection dans leur domaine. Par exemple, PSA, réinventé en 1967, fut le premier analyseur de taille de particules utilisant la technologie de diffraction laser. Le premier système commercial de diffusion de rayons X aux petits angles (SAXS), développé par Otto Kratky en 1957, a été fabriqué par Anton Paar. Aujourd'hui, Anton Paar la référence en matière de technologie. Les instruments de Quantachrome, une marque d’Anton Paar, ont commencé à se frayer une voie en 1968. Depuis lors, des équipes dédiées de scientifiques ont mis au point des instruments innovants parfaitement adaptés aux utilisateurs, idéaux pour la mesure des matières poreuses et des poudres.
Utilisez l'expertise d'Anton Paar dans la caractérisation des particules pour la recherche de particules et le développement de matières.
Outre une large gamme d'instruments spécifiques, Anton Paar propose des services complets de consultation d'applications ainsi que des informations sur les applications. Rapports d'application, le Wiki Anton Paar, le Blog Anton Paar, et les séminaires en ligne offrir des renseignements approfondis en matière de caractérisation des particules, notamment :
- Diffusion dynamique de la lumière (DLS) : Le concept de base pour mesurer la taille des particules
- Détermination de la taille des particules
- Distribution de la taille des particules
- Notions de base de la diffraction laser (LD)
- Rhéologie des poudres
- Analyse de la nanostructure avec diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
- Détermniation de la zone de surface
- Masse volumique solide des poudres
- Comment mesurer le potentiel zêta par diffusion dynamique de la lumière (DLS)
- et bien plus...
Utilisez ces ressources et notre expertise de longue date dans la caractérisation des particules pour explorer de nouveaux domaines d'application et obtenir des résultats optimaux en matière de production, de contrôle de la qualité et de développement de produits. Bien entendu, vous pouvez également nous contacter directement pour toute question concernant les instruments et les applications.
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Êtes-vous une personne pratique qui préfère toucher du doigt nos instruments ? Renseignez-vous pour savoir si l'un de nos Technical Centers dispose de l'instrument souhaité ou si un séminaire de caractérisation de surface est prévu dans votre région.
