Simplificando el uso del Microscopio de Fuerza Atómica con la serie Tosca

Simplificando el uso del Microscopio de Fuerza Atómica con la serie Tosca

Beschreibung:

El desarrollo del microscopio de fuerza atómica, permitió un gran salto en el área de ciencia de materiales al permitir caracterizar la topografía nanométrica de una amplia variedad de materiales y además, el estudio a la misma dimensión de propiedades magnéticas, eléctricas, conductivas, mecánicas y electroquímicas.

Hoy en día, la microscopía de fuerza atómica, representa una técnica consolidada en el área de investigación y desarrollo, nanotecnología y ciencia de materiales. En esta dirección, uno de los retos para las compañías productoras, ha sido generar tecnología más accesible en el uso y operación, producir una interfaz lo suficientemente sencilla de manera que pueda ser accesible inclusive para usuarios sin experiencia.

Como respuesta a este reto, Anton Paar lanza la nueva generación de microscopios de fuerza atómica, serie Tosca. Estos equipos representan el más alto nivel de automatización y facilidad de uso debido a la instrumentación que minimiza cualquier accidente debido al mal uso y también a su interfaz intuitiva que guía al usuario paso a paso hasta la obtención de una imagen en cuestión de pocos minutos.

Temas:

- Fundamentos de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)

- Modos básicos de operación

- Flujo de trabajo en el uso del AFM

- Simplificando cada operación con Tosca

- Aplicaciones

  • Información topográfica y rugosidad
  • Propiedades mecánicas
  • Propiedades eléctricas
  • Propiedades magnéticas

Datum: 2021-04-06, 10:00 - 11:00 (CDT UTC-05:00)
Sprache: Español
Vortragende: M. en C. Dante Flores

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