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Kapillarzusatz HTK 1200N

  • Hochtemperaturkammer HTK 1200N mit Kapillarzusatz für kombinierte Hochtemperatur-Röntgenbeugung in Reflexions- und Transmissionsgeometrie bis 1200 °C
  • Hochtemperaturkammer HTK 1200N: Kapillarzusatz
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Der Kapillarzusatz der Hochtemperaturkammer HTK 1200N ist der erste „Zwei-in-Einem“-Aufbau für kombinierte Hochtemperatur-Röntgenbeugung in Reflexions- und Transmissionsgeometrie bis 1200 °C! Dieser Zusatz verwandelt die Ofenkammer HTK 1200N in einen Hochleistungs-Kapillarofen für Transmissions-Röntgenbeugung. Die gute Temperaturhomogenität und die exzellente Temperaturkontrolle in der HTK 1200N werden auf diese Art mit der einfachen Handhabung der Kapillaren kombiniert. Die Umrüstung dauert nur ein paar Minuten – für Sie bedeutet es, dass Sie die optimale Strahlgeometrie für jede Probe auswählen können.

Technische Highlights

Ein Heizzusatz für flache Proben und Kapillaren

  • Umrüstung der Ofenkammer HTK 1200N zu einem leistungsstarken Kapillarofen bis 1200 °C
  • Schnelle Umrüstung der HTK 1200N direkt am Diffraktometer
  • Einfache Montage und Justierung der Kapillaren
  • Computergesteuertes Videomikroskop für die Kapillarenzentrierung

Hohe Temperaturen von exzellenter Genauigkeit

  • Sehr gute Temperaturhomogenität im bestrahlten Probenvolumen
  • Hohe Genauigkeit der Temperaturmessung

Für eine große Vielfalt an Proben

  • Halter für abgeschmolzene Kapillaren zur Untersuchung von luftempfindlichen Proben
  • Halter for offene Kapillaren mit Trichter für einfache Montage der Kapillaren
  • Offene Kapillarhalter zur Messung von ausgasenden Materialien

Technische Daten

Betriebstemperatur HTK 1200N: 25 °C bis 1200 °C
Quarzglas-Kapillare: 25 °C bis 1000 °C
Borosilikatglas-Kapillare: 25 °C bis 700 °C
Spezialglas-Kapillare: 25 °C bis 500 °C
Temperaturmessung Pt 10 % RhPt Thermoelement
Einfallswinkel 1,5 bis 88° 2Θ
Kapillargröße Durchmesser: 0,2 bis 1 mm
Länge: 85 mm
Kapillarausrichtung Horizontal

Anton Paar Certified Service

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NON-AMBIENT GUIDE

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Teilenummer: 223464
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The XRD-Guide gives an overview from instrumentation, analysis, and data interpretation to applications. It gives an introduction to non-ambient X-ray diffraction (NA-XRD) and aims to give a global overview on the main instrumentation and applications. The XRD-Guide is intended to help people new to the field of NA-XRD analysis.

HTK 1200N PROBENHALTER 0,8 mm TIEF

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Ersatzprobenhalter mit einer Ausfräsung von 0.8 mm Tiefe.

FIXIERRING FÜR PROBENHALTER HTK 1200N

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Zur Fixierung des Probenhalters auf dem Probenträger.

HTK 1200N PROBENHALTER 0,4 mm TIEF

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Ersatzprobenhalter mit einer Ausfräsung von 0.4 mm Tiefe.