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Oberflächeneigenschaften von funktionalen Beschichtungen und Dünnfilmen für Halbleiter und Anwendungen im Bereich erneuerbare Energie

Sie möchten mehr erfahren über die verschiedenen Technologien für die Oberflächencharakterisierung verschiedener Systeme, darunter Halbleiter und Materialien im Bereich erneuerbare Energie?

Sehen Sie sich dieses kostenlose Webinar an und gewinnen Sie detaillierte Einblicke in die theoretischen Aspekte von verschiedenen Analysemethoden sowie ausgewählten Anwendungen. Dieses Webinar behandelt außerdem die Wahl des richtigen Instruments für die Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen – von Rasterkraftmikroskopen und Nano-Ritzprüfern bis hin zur Röntgenkleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GISAXS).

Die behandelten Themen umfassen:

  • Oberflächentopographie von Dünnfilmen für die Chip-Fertigung mittels Rasterkraftmikroskopie
  • Analyse von strukturellen Eigenschaften mithilfe von Röntgenkleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GISAXS)
  • Nano-Ritzprüfungen für Photovoltaikzellen und Halbleiter
  • Charakterisierung von Halbleiter-Wafern mit unterschiedlichen Deckschichten (Siliziumoxid, Siliziumnitrid, Kupfer, Wolfram)

 

 

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