Vom Messprinzip zur Anwendung - Der Einsatz von AFM im Bereich der Sonder- und Hochleistungswerkstofftechnik

说明:

Bei der Entwicklung von neuen Werkstoffen sind hochaufgelöste, bildgebende Verfahren, wie SEM oder TEM schon seit langem im Einsatz. Die Rasterkraftmikroskopie, oder auch Atomic Force Microscopy (AFM) konnte diese Verfahren in der Vergangenheit oft durch hochaufgelöste, dreidimensionale Bilder von Strukturen, bis hinunter auf die Nanometerskala, ergänzen.

Das AFM ist bei der Oberflächencharakterisierung von Faserwerkstoffen und anderen neuen Materialien ein unverzichtbares Hilfsmittel. Neben der Topographie können zusätzlich mechanische Eigenschaften, wie z.B. der E-Modul, magnetische Probeneigenschaften oder auch elektrische Eigenschaften der Probenoberflächen bestimmt werden.

Sie beschäftigen sich mit Sonder- und Hochleistungswerkstoffen und sind an der Charakterisierung von Oberflächen von der Mikrometer- bis Nanometerskala interessiert?

Lernen Sie in diesem Webinar
• die Grundlagen der AFM Messtechnik 
• die Charakterisierung von Werkstoffeigenschaften
• die Oberflächencharakterisierung von Faserwerkstoffen

日期: 2021-02-23, 14:00 - 15:00 (CET UTC+01:00)
语言: Deutsch
培训师: Mirko Richter, TU Dresden (Institut für Textilmaschinen und Textile Hochleistungswerkstofftechnik), Dirk Meister, Anton Paar Germany GmbH

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