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  • SAXSpoint 2.0
  • SAXSpoint with ASX
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多功能实验室 SAXS/WAXS/GISAXS 系统:SAXSpoint 2.0

SAXSpoint 2.0 是用于纳米结构材料分析的新型实验室 SAXS/WAXS/GISAXS 系统。它可以测定纳米尺度范围的尺寸、尺寸分布和形状。SAXSpoint 2.0 特别适合于各向异性材料和纳米结构表面的分析。SAXSpoint 2.0 采用高光谱纯度和无散射光束准直的高亮度 X-射线。
结合最新的混合光子计数 (HPC) 探测器,它可以确保实现测量时间短以及高品质的 SAXS/WAXS/GISAXS 测量结果,从而实现对纳米结构材料的完美分析。

SAXSpoint 配备多种创新及多功能样品台,可涵盖多种 SAXS/WAXS/GISAXS 应用。SAXSpoint 2.0 是您针对聚合物、液晶、纳米颗粒及纳米结构表面等开展日常纳米研究工作的创新性可靠伙伴。

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主要特点

神奇的多功能 SAXS/WAXS/GISAXS 仪器

  • 测量时间短并具有优异的分辨率及 SAXS/WAXS/GISAXS 数据质量
  • 高光谱纯度的高亮度 X-射线
  • 无散射光束准直和最新混合光子计数 (HPC) 探测器技术
  • 涵盖多种 SAXS/WAXS/GISAXS 应用的多功能样品台
  • 创新设计和宽敞的样品室可以满足所有的实验需求

 

满足所有需求的出色产品特性

  • TrueSWAXS – 同时小角和广角散射测量方法(2Ѳ 散射角度最高可达 60°)
  • 利用固定样品支架安装选配的 WAXS 探测器模块可同时进行SWAXS 测量
  • 自动检测配置和样品台

 

全方位的实验灵活性

  • 采用高亮度 X-射线的专用点准直系统特别适合进行各向异性样品和纳米结构表面分析
  • 可选全面集成的双微聚焦光源,Cu 靶和 Mo靶间可轻松切换 ,涵盖各种 SAXS 应用
  • 可选配高性能Excillum的全方位集成 Ga MetalJet 光源
  • 适合任何应用,包括 GISAXS 研究以及在受控温度、湿度、拉伸应力、压力等条件下SWAXS 测量的多功能样品环境。
  • 液体和固体纳米结构样品的高通量筛选

 

功能强大的控制和数据分析软件

  • SAXSdrive™ – 对全自动 SWAXS 实验进行全系统控制
  • SAXSanalysis™ – 用定制的模板对数据进行简单快速处理
  • 先进的 SAXS 数据解析专用软件

技术指标

X-射线源 微聚焦 X 射线源 (Cu, Mo),可选双光源
可选 Ga MetalJet 光源
X-射线光学器件和
准直模块
定制的光学部件(完全真空)
先进的无散射光束准直(完全真空)
样品台/
自动进样器
  • TCStage 温度控制样品台
  • 具有加热选配的 GISAXS 样品台
  • 具有加热/冷却选配的 Tensile 样品台
  • 湿度样品台
  • 用于多个固体和液体样品的自动进样器
  • 按照需要定制的样品台
特殊功能TrueFocus:X-射线束自动准直调整
TrueSWAXS:同时进行高达 60° 2Ѳ 的 SWAXS 研究
StageMaster:具有样品台自动识别功能的 XYZ 平台
温度范围
氛围
-150 °C ...+500 °C,± 0.1 °C
真空、空气、惰性气体、湿度
(根据需求也可以是反应性气体)
样品槽

  • 液体用石英毛细管
  • LPS(低寄生散射)样品槽
  • 固体样品槽
  • 粘稠及粉末样品的粘性样品槽
  • 样品旋转的旋转样品槽
  • 高压样品槽
  • 少量样品的微量样品槽
  • 用于自动测量的流动样品槽/试管样品槽
测量时间低于 1 分钟至 30 分钟(典型值)
可达到的
q-范围
0.025 nm-1 至 49.0 nm-1
200 nm > d > 0.13 nm
软件SAXSdrive 测量和数据采集软件
SAXSanalysis 数据处理和分析软件
先进的数据解析软件 (PCG)
尺寸(投影面积) 2.7 m x 0.9 m(长 x 深)

应用报告

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