建议的结果

利用一种仪器测量粒径和分布、Zeta 电位、分子量和折光率

对于一些应用来说,如药物输送、肿瘤成像、聚合物和塑料、太阳能板、食品与饮料、化妆品、防晒液和陶瓷,对纳米颗粒进行全面的分析尤为重要。为优化颗粒和材料的特性,必须进行参数分析,如大小、电荷、重量、样品清晰度、形状、孔隙度、稳定性和颗粒数量。本次研讨会将展示多功能 Litesizer™ 500 ,并说明该设备如何以及为什么能够让您快速轻松地进行颗粒特性分析。

参加本次研讨会,了解如何利用已获专利的 cmPALS 技术和独特的 Omega 样品池测定 zeta 电位,并确保进行高度可再现性的快速测量。您将了解如何测量高度敏感的样品,同时不会对样品或结果产生任何影响。透光率测量可提供样品的浊度和聚集信息,并有助于仪器自动确定测量的最优设置。最后一项要点是,本次研讨会将重点介绍折射率,即对溶液中的颗粒进行准确的动态光散射 (DLS) 和电泳光散射 (ELS) 测量时的一个极其重要的参数。 

语言: 英语
培训师: Vinod Radhakrishnan 

Vinod Radhakrishnan 博士是安东帕美国公司材料特性分析部门的产品专家。Radhakrishnan 博士获得了德州农工大学(硕士)和奥本大学(博士)的化学工程学位。

现在免费访问!

只需简单填写下面的表格就可以有权限访问工具和相关内容。

正在加载...

错误