La microscopia a forza atomica come supporto per la caratterizzazione e lo sviluppo dei materiali polimerici

Descrizione:

 

Indagine topografica e proprietà superficiali con l'AFM

Data: 2020-07-10, 14:30 - 15:00 (UTC UTC+00:00)
Lingua: Italiano
Docente: Simone Marchesi

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