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Propriedades de superfície de revestimentos funcionais e películas finas para semicondutores e aplicações no campo de energia renovável

Deseja aprender mais sobre as diferentes tecnologias para caracterização de superfície de vários sistemas, inclusive de semicondutores e amostras no campo de energia renovável?

Assista gratuitamente a este seminário via web para obter informações detalhadas sobre os aspectos teóricos de diferentes métodos analíticos, bem como aplicações selecionadas. Este seminário via web também abrange a seleção dos equipamentos corretos para caracterizar superfícies e interfaces – desde microscópios de força atômica e medidores de riscos em escala nanométrica até dispersão de raios X a baixos ângulos em incidência rasante (GISAXS).

Serão alguns dos tópicos em destaque:

  • Topografia da superfície de camadas finas para fabricação de chips com o uso de microscópio de força atômica
  • Análise de propriedades estruturais por meio da dispersão de raios X em incidência rasante (GISAXS)
  • Medições de riscos em escala nanométrica para células fotovoltaicas e semicondutores
  • Caracterização de placas de material semicondutor com diferentes camadas superiores (óxido de silício, nitreto de silício, cobre, tungstênio)

 

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