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Rasterkraftmikroskop: Tosca™ 400

Schneller messbereit mit dem hochautomatisierten Rasterkraftmikroskop

Tosca™ 400 kombiniert Premium-Technologie mit einfacher und benutzerfreundlicher Bedienung. Damit ist dieses AFM für Anwender in der Industrie und Wissenschaft gleichermaßen geeignet. Der Betrieb ist weitgehend automatisiert, um die Effizienz zu steigern und die AFM-Messungen zu vereinfachen.

Untersuchen Sie die Eigenschaften Ihres Materials – mit hochleistungsfähiger Rasterkraftmikroskopie.

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Hauptmerkmale

Hervorragende Orientierungsfähigkeit: Automatische Laserausrichtung

Hervorragende Orientierungsfähigkeit: Automatische Laserausrichtung

Ein sehr wichtiger, aber auch komplexer Schritt bei AFM-Messungen ist die Laserausrichtung. Dies kann ein ziemlich zeitaufwendiger Vorgang sein, insbesondere für weniger erfahrene Anwender. Deshalb bietet Tosca™ 400 eine vollautomatische Laserausrichtfunktion: Wenn der Cantilever auf der Aktuatoreinheit und diese auf dem AFM-Kopf angebracht ist, führt das Instrument die Laserausrichtung nach nur zwei Klicks in der Control-Software automatisch aus.

Der volle Überblick: Großer Scanbereich in allen Richtungen kombiniert mit höchster Genauigkeit

Der volle Überblick: Großer Scanbereich in allen Richtungen kombiniert mit höchster Genauigkeit

Der X-Y-Scanbereich bis zu 100 μm deckt ein breites Spektrum von Anwendungen ab. Die Lage des X-Y-Scans kann sehr einfach mithilfe der „Click-and-move“-Navigation der Tosca™ Control-Software gesteuert werden. Die Genauigkeit bei der Positionierung und dem Scannen Ihrer Probe ist garantiert. 

Mit einem Z-Bereich von 15 μm können Oberflächentopographien auf dieser X-Y-Fläche erfasst und Rauheitsanalysen in diesem Z-Bereich durchgeführt werden.

Fortschrittlich: Der einfachste Annäherungsprozess auf dem AFM-Markt

Fortschrittlich: Der einfachste Annäherungsprozess auf dem AFM-Markt

Der Annäherungsprozess bringt die Probenoberfläche in Kontakt mit dem Cantilever. Dies ist einer der komplexesten Vorgänge beim Betrieb eines AFM. Tosca™ 400 überwindet dieses Problem mithilfe einer Seitenansichtkamera. Mithilfe der Kamera verfolgen Sie die exakte Position des Cantilevers in Bezug auf die Oberfläche und bewegen den Cantilever dicht an die Oberfläche heran. Dann können Sie den automatischen Annäherungsprozess der Software starten. Innerhalb von Sekunden berührt der Cantilever die Probenoberfläche und ist zum Scannen bereit. 

Gehen Sie eigene Wege: Kompatibel mit allen Cantilever-Modellen

Gehen Sie eigene Wege: Kompatibel mit allen Cantilever-Modellen

Auf dem Markt sind viele verschiedene Cantilever von unterschiedlichen Herstellern erhältlich – mit Tosca™ 400 können Sie Ihr bevorzugtes Modell verwenden. Sie legen einfach die Aktuatoreinheit und den Cantilever in das Werkzeug für den Cantileverwechsel ein, schieben ihn zurück – und schon befindet sich der gewünschte Cantilever in einer optimalen Position für Ihre nächste Messung. Sie brauchen keine Pinzette mehr, um den winzigen Cantilever korrekt zu positionieren – jetzt haben Sie das perfekte Werkzeug für den schnellen und sicheren Cantileverwechsel. 

Tosca™ 400 übernimmt die Führung: Modernste Probennavigation

Tosca™ 400 übernimmt die Führung: Modernste Probennavigation

Nach dem Beladen und Initialisieren von Tosca™ 400 können Sie ein Übersichtsbild des gesamten Probentischs starten. Mit einem einzigen Mausklick auf die gewünschte Position im Übersichtsbild navigiert das Instrument die Probe zum gewählten Bereich für die nächste Messung. Diese Navigation steht auch in der Micro-Ansicht zur Verfügung. Die Navigation wird vollautomatisch durch Klicken im Bildbereich des integrierten Videomikroskops ausgelöst. Auf diese Weise können Sie auch sehr einfach zu kleinen Merkmalen navigieren.

Spezifikationen

Scanner
X-Y-Scanbereich 100 µm x 100 µm
Z-Scanbereich 15 µm
Probengröße
Max. Probendurchmesser 90 mm
Max. Probenhöhe 25 mm
Max. Probengewicht 600 g
Motorisierte Positioniereinheit
X-Y-Positioniereinheit 100 mm Verfahrweg
Z-Positioniereinheit 85 mm Verfahrweg
Positionswiederholungsgenauigkeit (uni-direktional) <1 µm
Videomikroskop
Kamera Farbe, 5 Megapixel, CMOS-Sensor
Sichtfeld 1,73 mm x 1,73 mm
Räumliche Auflösung 5 µm
Fokus Motorgesteuerter Fokus
Übersichtskamera
Kamera Farbe, 5 Megapixel, CMOS-Sensor
Sichtfeld 40 mm x 40 mm
Räumliche Auflösung 50 µm
Seitenansichtkamera
Seitenansichtkamera Schwarzweiß, Sichtfeld ~ 30 mm
Standardmodi
Kontakt-Modus, intermittierender Modus (inklusive Phasenbild), Lateralkraftmikroskopie, Kraft-Abstand-Kurve
AFM-Einheit
Abmessungen 490 mm x 410 mm x 505 mm
Gewicht AFM-Einheit 51,1 kg
Abmessungen des Controllers (L x B x H) 340 mm x 305 mm x 280 mm
Gewicht des Controllers 7,8 kg

Applikationsberichte

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