金属

MCR＋トライボロジーセル：
トライボメータ

Revetest スクラッチ試験機:
RST³

XRD用電動調整:
Z調整ステージ

インライン音速センサ：
L-Sonic 5100

ウルトラナノインデンテーションテスタ:
UNHT³

ガス吸着アナライザー:
QUADRASORB evo

コーティング膜厚測定:
カロテストシリーズ

コーティング膜厚測定:
カロテストシリーズ コンボ(CAT²combo)

ナノインデンテーションテスタ:
Hit 300

ナノインデンテーションテスタ:
NHT³

ナノスクラッチテスタ:
NST³

ピンオンディスクトライボメータ:
TRB³

ホットブロック前処理装置:
Multicube 48

マイクロ波分解プラットフォーム:
Multiwave 5000

マイクロ波前処理装置:
Multiwave 7000

モジュラーコンパクトレオメータ:
MCR 702e MultiDrive

モジュラーコンパクトレオメータ:
MCR 702e Space MultiDrive

モジュラーコンパクトレオメータ:
MCR 102e/302e/502e

全自動多目的X線回折装置:
XRDynamic 500

動的光散乱装置:
Litesizer DLS

動的画像解析装置 :
Litesizer DIA 500

動的粘弾性レオメータ測定ヘッド:
DSR 502

半固体・固体密度用ガスピクノメーター：
Ultrapyc

固体表面分析用ゼータ電位分析装置:
SurPASS 3 Eco

固体表面分析用ゼータ電位分析装置:
SurPASS 3 スタンダード

水銀圧入孔径分析装置:
PoreMaster

水銀圧入孔径分析装置:
PoreMaster 33

水銀圧入孔径分析装置:
PoreMaster 60

水銀圧入孔径分析装置:
PoreMaster 60GT

真密度測定用5ステーションガスピクノメータ:
PentaPyc及びPentaFoam 5200e

真密度測定用5ステーションガスピクノメータ:
PentaPyc及びPentaFoam 5200e Foam

真空トライボメータ:
TRB V / THT V

真空式及びフロー式の脱ガス装置:
FloVac

真空式脱ガス装置:
XeriPrep

粒子径分布測定装置:
PSA

自動タップ密度計:
Autotap

自動タップ密度計:
Autotap シングルステーション 110V / 50HZ

自動タップ密度計:
Autotap シングルステーション 110V / 60HZ

自動タップ密度計:
Autotap デュアルステーション 110V / 50HZ

自動タップ密度計:
Autotap デュアルステーション 110V / 60HZ

自動フロー化学吸着アナライザー:
ChemBET Pulsar

蒸気吸着・ガス吸着分析装置:
VSTAR

蒸気吸着・ガス吸着分析装置:
VSTAR 2ステーション

蒸気吸着・ガス吸着分析装置:
VSTAR 2ステーションターボ

蒸気吸着・ガス吸着分析装置:
VSTAR 4ステーション

蒸気吸着・ガス吸着分析装置:
VSTAR 4ステーションターボ

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb 6100

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb 6200

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb 6300

高温トライボメータ:
THT

高温粘度計・レオメータ:
FRS

高真空物理/化学吸着分析装置：
autosorb iQ C-AG

高真空物理/化学吸着分析装置：
autosorb iQ C-MP

高真空物理/化学吸着分析装置：
autosorb iQ C-XR