Röntgen- Diffrakto- metrie (XRD)
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ermöglicht eine rasche Identifizierung von kristallinen Substanzen. Dabei wechselwirken Röntgenstrahlen mit den Kristalliten der Probe und werden unter bestimmten Winkeln reflektiert. Die Analyse der Winkellage und der Signalintensität ermöglicht die Identifikation des Materials und gibt Aufschluss über dessen Kristallform und Eigenschaften.
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Die Umgebungsbedingungen während der Herstellung, Lagerung und Bearbeitung von Stoffen hat großen Einfluss auf die Materialeigenschaften. Röntgen-Diffraktometrie unter diesen speziellen Umgebungsbedingungen ist eine wertvolle Methode, Veränderungen zu erkennen und zu untersuchen. Anton Paar bietet eine Vielzahl von Messkammern für XRD Untersuchungen im Temperaturbereich von -193 °C bis 2300 °C und unter verschiedenen Atmosphären an.
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Klein-
winkel- streuung (SAXS)
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ist die Methode der Wahl, wenn es darum geht nanostrukturierte Materialien zu untersuchen.
Röntgenstrahlen werden in alle Richtungen gestreut, wenn sie ein Zwei-Phasensystem (Kolloid) durchdringen, das aus einer kontinuierlichen Phase und einer darin verteilten, zweiten Phase besteht. Bei Strukturen im Nanometerbereich, die im Vergleich zur Wellenlänge der Röntgenstrahlen groß sind, erfolgt die Streuung zu kleinen Winkeln.
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Die resultierenden Streuungsmuster sind charakteristisch für die Form und Größe der inneren Strukturen. Auch deren Oberflächen-zu-Volumen Verhältnis kann daraus bestimmt werden. Mit dem SAXSess System bietet Anton Paar das technologisch neueste Instrument für die Untersuchung von nanostrukturierten Flüssigkeiten und festen Filmproben im Temperaturbereich von -150 °C bis 300 °C.
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