SAXSess à haut flux Instrument de diffraction X au petits angles (SAXS)
SAXSess à haut flux Instrument de diffraction X au petits angles (SAXS) Caractéristiques et bénéfices
Le SAXSess est un instrument pour la caractérisation structurale à l'échelle nanométrique.
Mesure Rapide
Grâce aux bénéfices du focus optique à multicouche (Max-Flux Optics de Osmic Inc.), le SAXSess atteint un gain en intensité 20 fois plus rapidement que les systèmes Kratky traditionnels. Cela permets des mesures extrèmement rapide.
Mesures simultanées aux petits et aux angles moyens.
Le SAXSess possède l'option pinhole compélétée d'accessoires permettant la mesure jusqu'à 41° d'angle.
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